标准搜索结果: 'GB/T 5677-2018'
| 标准编号 | GB/T 5677-2018 (GB/T5677-2018) | | 中文名称 | 铸件 射线照相检测 | | 英文名称 | Castings -- Radiographic testing | | 行业 | 国家标准 (推荐) | | 中标分类 | J31 | | 国际标准分类 | 77.040.20 | | 字数估计 | 30,346 | | 发布日期 | 2018-09-17 | | 实施日期 | 2019-04-01 | | 旧标准 (被替代) | GB/T 5677-2007 | | 发布机构 | 国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会 | GB/T 5677-2018
Castings - Radiographic testing
ICS 77.040.20
J31
中华人民共和国国家标准
代替GB/T 5677-2007
铸件 射线照相检测
2018-09-17发布
2019-04-01实施
国 家 市 场 监 督 管 理 总 局
中国国家标准化管理委员会 发 布
目次
前言 Ⅰ
1 范围 1
2 规范性引用文件 1
3 术语和定义 1
4 订货须知 2
5 射线照相技术分级 2
6 通则 3
7 射线透照技术 5
8 底片评定 19
9 检测记录和报告 19
附录A(资料性附录) 本标准与ISO 4993:2015相比的结构变化情况 20
附录B(规范性附录) 光学密度计定期核查方法 21
附录C(资料性附录) 射线检测操作指导书 22
附录D(资料性附录) 环形铸件最少透照次数的确定 23
附录E(规范性附录) 焦点尺寸的计算 27
前言
本标准按照GB/T 1.1-2009给出的规则起草。
本标准代替GB/T 5677-2007《铸钢件 射线照相检测》,与GB/T 5677-2007相比主要变化如下:
---将标准名称修改为《铸件 射线照相检测》;
---修改了标准的适用范围,增加了金属材料种类和各种铸造工艺方法(见第1章);
---增加了术语和定义(见第3章);
---修改了订货须知(见第4章,2007版第3章);
---增加了射线照相技术分级(见第5章);
---增加了通则(见第6章);
---增加了射线透照技术(见第7章);
---增加了底片评定(见第8章);
---增加了附录A、附录B、附录C、附录D和附录E。
本标准使用重新起草法修改采用ISO 4993:2015《钢铁铸件 射线照相检测》。
本标准与ISO 4993:2015相比在结构上有较多调整,附录A中列出了本标准与ISO 4993:2015的
章条编号对照一览表。
本标准与ISO 4993:2015的技术性差异及其原因如下:
---关于规范性引用文件,本标准做了具有技术性差异的调整,以适应我国的技术条件,调整的情
况集中反映在第2章“规范性引用文件”中,具体调整如下:
● 用GB/T 23901.1、GB/T 23901.2分别代替ISO 19232.1、ISO 19232.2;
● 用GB/T 12604.2代替ISO 5576;
● 用GB/T 19348.1、GB/T 19348.2分别代替ISO 11699-1、ISO 11699-2;
● 用GB/T 9445代替ISO 9712;
● 用GB/T 19802代替ISO 5580;
● 增加了另外6项引用文件;
---修改了范围、订货须知、工艺文件、一次透照最大区域、胶片和增感屏的选择、像质计的使用;
---增加了一些术语和定义、射线照相技术分级、设备与器材、曝光量、曝光曲线、底片质量、底片储
存、底片评定、检测记录与报告、附录A、附录B、附录C、附录D和附录E;
---删除了ISO 4993:2015中的验收评定标准。
本标准还做了下列编辑性修改:
---将标准名称修改为“铸件 射线照相检测”。
本标准由全国铸造标准化技术委员会(SAC/TC54)提出并归口。
本标准负责起草单位:沈阳铸造研究所有限公司。
本标准参加起草单位:安徽应流集团霍山铸造有限公司、芜湖永裕汽车工业股份有限公司、上海航
天精密机械研究所、中铁宝桥集团有限公司、中信戴卡股份有限公司、天瑞集团铸造有限公司、青岛三合
山精密铸造有限公司。
本标准主要起草人:李兴捷、张震、王朝辉、刘佳河、郑志勋、李来平、王汉超、陈辉、叶世中、董彦录、
阿拉腾、刘军、张海勋、李明波、穆建平。
本标准所代替标准的历次版本发布情况为:
---GB/T 5677-1985、GB/T 5677-2007。
铸件 射线照相检测
1 范围
本标准规定了用X射线和γ射线照相胶片法检测铸件的订货须知、射线照相技术分级、通则、射线
透照技术、底片评定、检测记录与报告。
本标准适用于钢、铜及铜合金、镍及镍合金、铝及铝合金、钛及钛合金和各种铸造工艺方法生产的铸
件的射线检测,对其他金属材料铸件的射线检测也可参照使用。
2 规范性引用文件
下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本文
件。凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。
GB/T 9445 无损检测 人员资格鉴定与认证(GB/T 9445-2015,ISO 9712:2012,IDT)
GB/T 11533 标准对数视力表
GB/T 12604.2 无损检测 术语 射线照相检测(GB/T 12604.2-2005,ISO 5576:1997,IDT)
GB 18871 电离辐射防护与辐射源安全基本标准
GB/T 19348.1 无损检测 工业射线照相胶片 第1部分:工业射线照相胶片系统的分类
(GB/T 19348.1-2014,ISO 11699-1:2008,MOD)
GB/T 19348.2 无损检测 工业射线照相胶片 第2部分:用参考值方法控制胶片处理
(GB/T 19348.2-2003,ISO 11699-2:1998,IDT)
GB/T 19802 无损检测 工业射线照相观片灯 最低要求(GB/T 19802-2005,ISO 5580:1985,
IDT)
GB/T 23901.1 无损检测 射线照相底片像质 第1部分:线型像质计 像质指数的测定
(GB/T 23901.1-2009,ISO 19232-1:2004,IDT)
GB/T 23901.2 无损检测 射线照相底片像质 第2部分:阶梯孔型像质计 像质指数的测定
(GB/T 23901.2-2009,ISO 19232-2:2004,IDT)
GB/T 23910 无损检测 射线照相检测用金属增感屏
GBZ 98 放射工作从业人员健康标准
GBZ 117 工业X射线探伤放射防护要求
GBZ 132 工业γ射线探伤放射防护标准
3 术语和定义
GB/T 12604.2界定的以及下列术语和定义适用于本文件。
3.1
公称厚度 nominalthickness
母材的公称壁厚,不考虑偏差。
3.2
透照厚度 penetratedthickness
射线透照方向上的母材公称厚度。多壁透照时,穿透厚度为通过的各层材料公称厚度之和。
3.3
工件至胶片距离 object-to-filmdistance
沿射线束中心线测出的射线源侧被检工件表面至胶片间的距离。
3.4
射线源尺寸 sourcesize
射线源的有效焦点尺寸。
3.5
焦距 source-to-filmdistance
沿射线束中心线测出的射线源至胶片间的距离。
3.6
射线源至工件距离 source-to-objectdistance
沿射线束中心线测出的射线源至射线源侧被检工件表面间的距离。
4 订货须知
4.1 应在询价和合同中注明射线检测所涉及到如射线技术等级、检测部位及验收标准等相关信息。
4.2 无法进行射线检测的复杂结构铸件区域,应在射线检测前双方协商确定注明;若使用其他无损检
测方法,需经过双方商定。平面型缺陷可以用适当的射线检测结合其他无损检测方法,附加的无损检测
需经过双方商定。
4.3 对不要求做射线检测的铸件不应由于后序的射线检测结果不合格而判定为不合格。同时,初始射
线检测验收之后进行复检,此复检的方法若与当初合同规定不同,或经过机加铸件厚度减少50%或以
上,铸件不应按复检的结果判定。
5 射线照相技术分级
5.1 射线照相技术分为两个等级:
---A级:基本技术;
---B级:优化技术。
射线照相技术等级选择,应符合相关标准、设计图样、技术条件的规定。在无特殊要求时,一般应选
用A级技术。A级技术不能满足检测要求时,应选用B级技术。
5.2 当B级技术规定的透照条件(如射线源至工件的距离)无法实现时,经合同各方商定,也可选用A
级技术规定的透照条件。此时灵敏度的损失可通过提高底片最小黑度至3.0或选用较高级别的胶片来
补偿,若补偿后灵敏度达到了B级技术的规定,可视为按B级条件检测。
6 通则
6.1 检测人员
6.1.1 检测人员应按照GB/T 9445或其他相关标准要求,并持有相应考核机构颁发的资格证书,检测
人员的资格各方应一致认可。
6.1.2 检测人员的健康应符合GBZ 98的规定,上岗前应进行辐射安全知识的培训,并持有放射工作人
员证书。
6.1.3 检测人员未经矫正或经矫正的近(距)视力和远(距)视力应不低于5.0(小数记录值为1.0),每年
应检查一次视力,测试方法应符合GB/T 11533的规定。
6.2 设备与器材
6.2.1 射线装置
6.2.1.1 X射线由X射线机或加速器产生。
6.2.1.2 γ射线由Co60、Ir192、Se75、Yb169、Tm170源等产生。
6.2.2 密度计
6.2.2.1 密度计的最大可测值应不低于4.5,测量精度误差不超过±0.05。
6.2.2.2 密度计首次使用前应核查,应至少每6个月核查一次,核查方法可按附录B的规定进行,核查
后应填写记录。
6.2.3 标准密度片
标准密度片应至少包括8个黑度基准(高、中、低),能覆盖0.3~4.5黑度范围,应至少每两年送计量
部门检定一次。
6.2.4 观片灯
观片灯的主要性能应符合GB/T 19802的规定。
6.2.5 胶片
6.2.5.1 胶片系统类别应与GB/T 19348.1一致,即C1~C6,C1为最高级别,C6为最低级别,胶片系统
特性指标见表1。
6.2.5.2 使用中胶片的灰雾度,当选用A级技术时不应高于0.35,当选用B级技术时不应高于0.25。
6.2.5.3 胶片处理方法、设备和化学药剂应按照GB/T 19348.2的规定,用胶片制造商提供的预先曝光
胶片测试片进行测试和控制。不得使用超过规定有效期的胶片,胶片保存温度和相对湿度应分别控制
在5℃~25℃和30%~60%,并应避免受任何电离辐射的照射。
表1 工业射线胶片系统的主要特性指标
胶片系统
类别
梯度最小值(Gmin) 颗粒度最大值(σD)max
(梯度/颗粒度)
最小值(G/σD)min
D=2.0 D=4.0 D=2.0 D=2.0
C1 4.5 7.5 0.018 300
表1(续)
胶片系统
类别
梯度最小值(Gmin) 颗粒度最大值(σD)max
(梯度/颗粒度)
最小值(G/σD)min
D=2.0 D=4.0 D=2.0 D=2.0
C2 4.3 7.4 0.020 230
C3 4.1 6.8 0.023 180
C4 4.1 6.8 0.028 150
C5 3.8 6.4 0.032 120
C6 3.5 5.0 0.039 100
注:表中的黑度D 均指不包括灰雾度的净黑度。
6.2.6 增感屏
射线检测应使用金属增感屏或不用增感屏,增感屏应符合GB/T 23910的要求,应平整、无划伤、无
污物。
6.2.7 像质计
线型像质计的型号和规格应符合 GB/T 23901.1的规定,孔型像质计型号和规格应符合
GB/T 23901.2的规定。像质计材料的吸收系数应尽可能接近或等同于被检材料的吸收系数,任何情况
下不能高于被检材料的吸收系数。
6.2.8 暗室
6.2.8.1 暗室的温度应控制在18℃~25℃,设有通风装置,分为“干区”与“湿区”,“干区”的相对湿度
应控制在30%~60%。
6.2.8.2 应根据胶片供应商的推荐,使用安全红灯和红灯滤光片,安全红灯的安全性一般每年检查一
次,当更换灯泡或滤光片时,应同时进行安全性检查。简易的检查方法为:切一条胶片,放在平时切包装
胶片距安全红灯最近的位置上,一半用黑纸遮挡,另一半暴露在安全红灯下,暴露时间不少于切包装胶
片所需的最长时间,然后,按实际使用的程序进行暗室处理,测量两边的黑度值,其差值应不高于0.05。
6.2.9 射线防护
射线照相的辐射防护应遵循GB 18871、GBZ 117、GBZ 132的规定。
6.3 工艺文件
6.3.1 除非协议或合同中有特殊规定,应按照书面工艺文件进行射线检测,合同双方应商定书面工艺
文件的具体要求。工艺文件包括工艺规程和操作指导书。
6.3.2 工艺规程应由3级人员编制,工艺规程中应至少包含如下内容:
a) 适用范围;
b) 设备仪器及材料;
c) 射线照相技术等级;
d) 透照技术;
e) 透照方式;
f) 射线能量的选择;
g) 胶片与增感屏的选择;
h) 散射线的控制;
i) 放射源到工件的最小距离;
j) 曝光量;
k) 像质计的使用;
l) 暗室处理方法或条件;
m) 底片观察技术。
6.3.3 操作指导书应由2级及以上人员编制,首次使用的操作指导书应进行工艺验证,以验证底片质
量是否能够达到标准规定的要求。操作指导书中应至少包含如下内容:
a) 铸件名称、图号及材料种类;
b) 检测部位、表面状态;
c) 射线源种类、型号及焦点尺寸;
d) 胶片型号;
e) 暗室处理;
f) 黑度范围;
g) 屏蔽方式;
h) 增感屏的厚度和类型;
i) 像质计类型和像质指数;
j) 射线照相技术等级;
k) 检测标准、验收标准、验收级别;
l) 透照参数:射线源至胶片距离、管电压、管电流或γ射线源活度以及曝光时间;
m) 布片示意图。
注:操作指导书格式可参照附录C或根据铸件产品特点自行设计。
7 射线透照技术
7.1 铸件表面处理和检测时机
7.1.1 铸件表面应去除任何可能遮盖或混淆铸件内部缺陷的状态,清除影响底片上缺陷影像辨认的多
余物。当要求A级技术时,切除后的浇、冒口残余量不超过透照部位厚度的10%;当要求B级技术时,
浇、冒口应完全切除。
7.1.2 检测时机应满足技术条件或合同的要求。技术条件或合同中无特殊规定时,射线检测宜在热处
理后、毛坯铸件、粗加工、精加工条件下进行。
7.2 透照布置
7.2.1 透照方式
7.2.1.1 应根据铸件的结构特点和技术条件的要求选择适宜的透照方式,应优先选用单壁透照方式,在
单壁透照不能实施的情况下,才允许采用双壁透照方式。
7.2.1.2 典型透照布置:图1~图7为简单结构,图8~图12为复杂结构。
7.2.1.3 平面形铸件的单壁透照,按图1布置。
7.2.1.4 曲面形铸件的单壁透照,按图2、图3或图4布置。若条件允许,射线源应按图3、图4放置,以
获得更佳的透照方向。
7.2.1.5 平面及曲面形铸件的双壁透照,按图5、图6、图7布置。若几何形状造成其他布置难以应用或
能够获得更好的检测灵敏度,可按图7使用双壁双影透照方法,以确保充分检出缺陷,影像质量满足要
求。对于外径小于100mm环形铸件,可按图6使用双壁双影透照方法,每隔120°或60°曝光一次。
7.2.1.6 检测按图6、图7布置,缺陷应按单壁的厚度分级,壁厚不同时,应参照较小的壁厚。
7.2.1.7 检测按图5布置,放射源至被检区表面距离应最小,像质计应满足要求。
7.2.1.8 复杂几何形状的透照,除非获得其他许可,推荐按图8~图12布置。
说明:
Q---放射源; t ---公称厚度;
B---胶片; b ---工件至胶片的距离;
f ---源至工件的距离; w---透照厚度。
图1 平面形铸件单壁透照
注:源位于凸面侧,胶片位于凹面侧。
图2 曲面形铸件单壁透照
注:源位于凹面侧,胶片位于凸面侧。
图3 曲面形铸件单壁透照
注:源位于圆心,胶片位于外圆周。
图4 曲面形铸件单壁透照
注:分段曝光,源与胶片均在两侧。
图5 平面及曲面形铸件双壁单影透照
注:分段曝光,源与胶片均在两侧。
图6 平面及曲面形铸件双壁双影透照
注:整体曝光,源与胶片均在两侧。
图7 平面及曲面形铸件双壁双影透照
a) 首选方式 b
) 首选方式不能实现时使用此方式
图8 边缘和凸缘铸件透照
a) 首选方式 b) 首选方式不能实现时使用此方式
图9 肋形铸件透照
图10 十字形铸件透照
图11 楔形铸件透照
图12 肋形加支撑结构铸件透照
7.2.2 一次透照最大区域
7.2.2.1 厚度均匀的一个被检区域的外端与中心射线束的穿透厚度之比K,对于平面形铸件,A级、
B级技术不应大于1.03。对于曲面、环形、复杂结构铸件,B级技术不应大于1.1,A级技术不应大于
1.2,环形铸件通过K 值确定的最少透照次数N 的图表参照附录D。
7.2.2.2 若缺陷的取向特殊或此方法为能够检测的唯一方法,K 值可以适当放大,由合同双方商定。
7.2.3 射线束方向
一般射线束应对准被检区中心,并在该点与被检铸件表面垂直;需要时也可选用有利于发现缺陷的
方向透照。
7.2.4 变截面透照技术
对于截面厚度变化较大的铸件,在满足规定的影像质量要求前提下,增大有效透照区,减少曝光次
数,其技术方法如下:
a) 多胶片法:允许同一暗袋中放两张或多张感光速度相同或不同的胶片同时曝光;
b) 提高射线能量法:适当提高管电压;使用γ射线源或加速器代替X射线源(只适合A级技术);
c) 厚度补偿法:用补偿块、补偿粉、补偿泥、补偿液等填补铸件较薄部分(只适合A级技术)。
7.3 射线源的选择
7.3.1 500kV及以下X射线源的选择
7.3.1.1 使用不高于500kV的X射线机进行检测时,在保证穿透力的前提下,应尽可能采取较低的管
电压,允许的最高管电压与材料的透照厚度之间的关系见图13。
7.3.1.2 采用提高射线能量法检测变截面铸件时,可以将图13中的最高管电压适当提高。对钢、铜及
铜合金、镍及镍合金材料,管电压最大允许提高50kV;对钛及钛合金材料,管电压最大允许提高
40kV;对铝及铝合金材料,管电压最大允许提高30kV。
说明:
1---铜及铜合金或镍及镍基合金; 3---钛及钛合金;
2---钢; 4---铝及铝合金。
图13 不同透照厚度允许的X射线最高透照管电压
7.3.2 其他射线源的选择
γ射线源和1MeV以上X射线装置所允许的透照厚度范围见表2。
表2 γ射线源和能量1MeV以上X射线设备透照厚度范围(钢、铜及镍基合金等)
射线源
透照厚度w/mm
A级 B级
Tm170 ≤5 ≤5
Yb169a 1~15 2~12
Se75b 10~40 14~40
Ir192 20~100 20~90
Co60 40~200 60~150
1MeV~4MeVX射线 30~200 50~180
>4MeV~12MeVX射线 ≥50 ≥80
>12MeVX射线 ≥80 ≥100
a 对于铝和钛,允许的透照厚度范围A级为10mm< w< 70mm,B级为25mm< w< 55mm。
b 对于铝和钛,允许的透照厚度范围A级为35mm< w< 120mm。
7.3.3 γ射线源的使用
在能够使用X射线的情况下,尽量不要选用γ射线源。对于薄壁件,采用Ir192或Co60γ射线源进
行透照与用曝光参数合适的X射线进行透照相比,底片影像质量较差。
7.4 胶片和增感屏的选择
7.4.1 应根据射线技术级别和使用射线源类型或能量按表3和表4选用合适的胶片类别及增感屏材料
和厚度。
7.4.2 使用胶片与增感屏时,应使胶片与增感屏之间紧贴。
表3 钢、铜、镍合金射线照相所适用的胶片系统类别和金属增感屏
射线种类 透照厚度w/mm
胶片系统类别a 金属增感屏类型和厚度/mm
A级 B级 A级 B级
X射线(≤100kV)
X射线
......
|