[PDF] GB/T 6616-1995 - 英文版
| 标准号码 | 美元 | 购买PDF | 工期 | 标准名称(英文版) |
| GB/T 6616-1995 | 279 | GB/T 6616-1995 | <=3 | 半导体硅片电阻率及硅薄膜薄层 电阻测定 非接触涡流法 |
| 基本信息 | |
|---|---|
| 标准编号 | GB/T 6616-1995 (GB/T6616-1995) |
| 中文名称 | 半导体硅片电阻率及硅薄膜薄层 电阻测定 非接触涡流法 |
| 英文名称 | Test method for measuring resistivity of semiconductor silicon or sheet resistance of semiconductor films with a noncontact eddy-current gage |
| 行业 | 国家标准 (推荐) |
| 中标分类 | H21 |
| 国际标准分类 | 29.040.30 |
| 字数估计 | 7,794 |
| 发布日期 | 4/18/1995 |
| 实施日期 | 12/1/1995 |
| 旧标准 (被替代) | GB 6616-1986 |
| 采用标准 | ASTM F673-1990, MOD |
| 标准依据 | Announcement of Newly Approved National Standards 2009 No. (No. 152 overall) 12 |
| 发布机构 | 国家技术监督局 |