[PDF] SJ 20438-1994 - 中国标准 英文版
| 标准号码 | 美元 | 购买PDF | 工期 | 标准名称(英文版) |
| SJ 20438-1994 | 439 | SJ 20438-1994 | <=3 | 红外探测器用碲锡铅晶片测试方法 |
| 基本信息 | |
|---|---|
| 标准编号 | SJ 20438-1994 (SJ20438-1994) |
| 中文名称 | 红外探测器用碲锡铅晶片测试方法 |
| 英文名称 | Methods for measurement of lead tin telluride slice for use in infrared detector |
| 行业 | 电子行业标准 |
| 中标分类 | L52;L90 |
| 字数估计 | 11,174 |
| 发布日期 | 9/30/1994 |
| 实施日期 | 12/1/1994 |
| 引用标准 | GB 8760-88; GB 11297.7-89; GJB 1785-93 |
| 范围 | 本规范规定了红外探测器用碲锡铅(Pb(1-k)S(nx)T(e))单晶片的电学参数、结构参数和组分的测试方法。本标准适用于红外探测器用碲锡铅外延衬底用单晶片的性能检测和评定, 也适用于碲化铅和碲锡铅外延膜位错腐蚀坑的检测。 |
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