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标准号码 |
标准名称 |
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SJ 2658.10-1986
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半导体红外发光二极管测试方法.调制宽带的测试方法
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SJ 2658.11-1986
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半导体红外发光二极管测试方法.脉冲响应特性的测试方法
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SJ 2658.1-1986
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半导体红外发光二极管测试方法.总则
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SJ 2658.12-1986
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半导体红外发光二极管测试方法.峰值发射波长和光谱半宽度的测试方法
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SJ 2658.13-1986
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半导体红外发光二极管测试方法.输出光功率温度系数的测试方法
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SJ 2658.2-1986
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半导体红外发光二极管测试方法.正向压降测试方法
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SJ 2658.3-1986
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半导体红外发光二极管测试方法.反向电压测试方法
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SJ 2658.4-1986
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半导体红外发光二极管测试方法.电容的测试方法
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SJ 2658.5-1986
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半导体红外发光二极管测试方法.正向串联电阻的测试方法
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SJ 2658.6-1986
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半导体红外发光二极管测试方法.输出光功率的测试方法
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SJ 2658.7-1986
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半导体红外发光二极管测试方法.辐射通量的测试方法
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SJ 2658.8-1986
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半导体红外发光二极管测试方法.法向辐射率的测试方法
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SJ 2658.9-1986
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半导体红外发光二极管测试方法.辐射强度空间分布和半强度角的测试方法
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SJ 2684-1986
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半导体发光(可见光)器件外形尺寸
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SJ 2558-1984
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SM1～18型半导体发光数码管
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SJ 2354.10-1983
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PIN、雪崩光电二极管列阵串光因子的测试方法
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SJ 2354.11-1983
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PIN、雪崩光电二极管列阵盲区宽度的测试方法
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SJ 2354.1-1983
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PIN、雪崩光电二极管光电参数测试方法.总则
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SJ 2354.12-1983
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雪崩光电二极管反向击穿电压温度系数的测试方法
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SJ 2354.13-1983
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雪崩光电二极管倍增因子的测试方法
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SJ 2354.14-1983
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雪崩光电二极管过剩噪声指数的测试方法
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SJ 2354.2-1983
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PIN、雪崩光电二极管反向击穿电压的测试方法
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SJ 2354.3-1983
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PIN、雪崩光电二极管暗电流的测试方法
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SJ 2354.4-1983
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PIN、雪崩光电二极管正向压降的测试方法
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SJ 2354.5-1983
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PIN、雪崩光电二极管电容的测试方法
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SJ 2354.6-1983
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PIN、雪崩光电二极管响应度的测试方法
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SJ 2354.7-1983
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PIN、雪崩光电二极管光谱响应曲线和光谱响应范围的测试方法
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SJ 2354.8-1983
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PIN、雪崩光电二极管脉冲上升、下降时间的测试方法
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SJ 2354.9-1983
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PIN、雪崩光电二极管噪声等效功率的测试方法
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SJ 2355.1-1983
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半导体发光器件测试方法.总则
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SJ 2355.2-1983
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半导体发光器件测试方法.正向压降的测试方法
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SJ 2355.3-1983
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半导体发光器件测试方法.反向电流的测试方法
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SJ 2355.4-1983
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半导体发光器件测试方法.结电容的测试方法
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SJ 2355.5-1983
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半导体发光器件测试方法.法向光强和半强度角的测试方法
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SJ 2355.6-1983
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半导体发光器件测试方法.光通量的测试方法
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SJ 2355.7-1983
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半导体发光器件测试方法.发光峰值波长和光谱半宽度的测试方法
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SJ 20437-1994
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红外探测器用碲锡铅晶片规范
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SJ 20438-1994
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红外探测器用碲锡铅晶片测试方法
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SJ/T 11466-2014
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红外遥控接收放大器
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SJ 20955-2006
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故障探测指示器通用规范
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SJ 20830-2002
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铂硅红外焦平面探测器杜瓦组件. 通用规范
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SJ 20831-2002
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4N红外焦平面探测器杜瓦组件参数. 测试方法
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SJ 20784-2000
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微型杜瓦总规范
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SJ 51206/3-1998
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4/20H83SY2型红处探测组件详细规范
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SJ 51206/2-1996
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６０Ｈ３０ＤＹ２型液氮制冷６０元光导碲镉汞红外探测器详细规范
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SJ 51206/1-1995
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Ｈ２０ＤＪＩ型节流制冷光导硫化铅红外探测器详细规范
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SJ 20046-1992
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便携式非金属地雷探测器通用规范
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SJ 21586-2021
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增材制造 军用电子设备铝合金选区激光熔融工艺要求
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SJ 20138A-2018
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掺钕钇铝石榴石激光棒规范
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SJ/T 11403-2009
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通信用激光二极管模块可靠性评定方法
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SJ 20821-2002
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激光棒单程损耗系数的测量方法
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SJ 20798-2001
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军用激光器及相关支持设备的安全设计要求
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SJ 20762-1999
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气体激光器参数测试方法
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SJ 20027.1-1997
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JYM200-1型固体脉冲激光器详细规范
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SJ 20531-1995
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气体激光器总规范
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SJ 50033/101-1995
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GJ1325半导体激光二极管组件详细规范
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SJ 20027-1992
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固体激光器总规范
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SJ 20138-1992
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掺钕钇铝石榴石激光棒规范
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SJ 2750-1987
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半导体激光二极管外形尺寸
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SJ 2664-1986
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氦氖激光器的加速寿命试验方法
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SJ 1871-1981
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气体激光器的测试条件
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SJ 1872-1981
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气体激光器着火电压的测试方法
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SJ 1873-1981
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气体激光器最佳工作电流的测试方法
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SJ 1874-1981
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气体激光器管压降的测试方法
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SJ 1875-1981
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气体激光器输出功率的测试方法
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SJ 1876-1981
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气体激光器输出功率稳定性的测试方法
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SJ 1877-1981
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气体激光器光束方向偏移的测试方法
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SJ 1878-1981
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气体激光器横模的鉴别方法
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SJ 1879-1981
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气体激光器发散角的测试方法
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SJ 1880-1981
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气体激光器频率漂移的测试方法
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SJ 1881-1981
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气体激光器偏振度的测试方法
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SJ/T 11209-1999
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光伏器件.第6部分:标准太阳电池组件的要求
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SJ/T 11766-2020
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光电耦合器件低频噪声参数测试方法
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SJ/T 2215-2015
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半导体光电耦合器测试方法
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SJ/T 11395-2009
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半导体照明术语
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SJ/T 11405-2009
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光纤系统用半导体光电子器件 第2部分:测量方法
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SJ 20986-2008
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体波声光器件通用规范
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SJ 20868-2003
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电荷耦合成像器件测试方法
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SJ 20869-2003
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铌酸锂集成光学波导调制器测试方法
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SJ 20642.7-2000
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半导体光电器件GR1325J型长波长发光二极管组件详细规范
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SJ 20786-2000
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半导体光电组件总规范
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SJ 20791.1-2000
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GDB-603型微通道板光电倍增管详细规范
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SJ 50033/147-2000
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半导体分立器件. GF1121型LED指示灯详细规范
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SJ 20723-1998
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GG6001型脉冲信号光电隔离组件详细规范
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SJ 20724-1998
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GG2240型多路高速数据光电隔离组件详细规范
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SJ 20644-1997
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PIN、APD光电探测器总规范
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SJ/T 10686-1995
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安全电气隔离用光电耦合器要求和试验
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SJ 2247-1982
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半导体光电子器件外形尺寸
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SJ/T 10706-1996
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液晶显示器件外形和窗口优选尺寸系列
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SJ/T 11460.6.3-2022
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显示光源组件 第 6-3 部分：测试方法 LED 发光条 光电参数
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SJ/T 11460.3.3.1-2021
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液晶显示用背光组件 第3-3-1部分:电视接收机用直下式LED背光组件详细规范
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SJ/T 11460.3.4-2019
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液晶显示用背光组件 第3-4部分:车载用LED背光组件空白详细规范
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SJ/T 11460.3.5-2019
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液晶显示用背光组件 第3-5部分:家用电器用LED背光组件空白详细规范
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SJ/T 11460.3.6-2019
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液晶显示用背光组件 第3-6部分:工业仪表用LED背光组件空白详细规范
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SJ/T 11460.4-2018
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液晶显示用背光组件 第4部分：量子点背光组件空白详细规范
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SJ/T 11141-2017
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发光二极管(LED)显示屏通用规范
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SJ/T 11281-2017
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发光二极管(LED)显示屏测试方法
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SJ 20987/1-2016
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LCM104XA04型加固液晶显示器详细规范
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SJ/T 11459.2.2.5-2016
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液晶显示器件 第2-2-5部分:电视机用彩色矩阵液晶显示模块详细规范
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SJ/T 11461.2-2016
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有机发光二极管显示器 第2部分:基本额定值和特性
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