[PDF] SJ 20719-1998 - 中国标准 英文版
| 标准号码 | 美元 | 购买PDF | 工期 | 标准名称(英文版) |
| SJ 20719-1998 | 239 | SJ 20719-1998 | <=3 | 碲镉汞晶体X值的X-射线荧光法测定方法 |
| 基本信息 | |
|---|---|
| 标准编号 | SJ 20719-1998 (SJ20719-1998) |
| 中文名称 | 碲镉汞晶体X值的X-射线荧光法测定方法 |
| 英文名称 | Method of determination X value for mercury cadmium telluride for use in X-ray fluorimetry |
| 行业 | 电子行业标准 |
| 中标分类 | H82 |
| 字数估计 | 6,630 |
| 发布日期 | 3/18/1998 |
| 实施日期 | 5/1/1998 |
| 引用标准 | GJB 1866-94 |
| 范围 | 本标准规定了用x-射线荧光法测定碲镉汞晶片的组分X值。本标准适用于X值在0.100～0.35Omol范围内的碲镉汞晶片组分X值定量测定。 |
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