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[PDF] SJ 2757-1987 - 中国标准 英文版

标准搜索结果: 'SJ 2757-1987'
标准号码美元购买PDF工期标准名称(英文版)
SJ 2757-1987 219 SJ 2757-1987 <=2 重掺半导体载流子浓度的红外反射测试方法
基本信息
标准编号 SJ 2757-1987 (SJ2757-1987)
中文名称 重掺半导体载流子浓度的红外反射测试方法
英文名称 Method of measurement by infra-red reflection for charge carrier concentraiton of heavily doped semiconductors
行业 电子行业标准
中标分类 L90
字数估计 5,524
发布日期 2/10/1987
实施日期 7/1/1987
标准依据 工科(2010)第77号
范围 本标准适用于测量重掺半导体体材料载流子浓度, 也适用于测量外延层、埋层和扩散层的载流子、浓度。

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英文网页English: SJ 2757-1987

相关标准: SJ/T 11634|SJ/T 1543|SJ/T 1542|SJ/T 3200|