SJH 2757-1987 相关标准英文版PDF
| 标准号码 | 价格美元 | 第2步(购买) | 交付天数 | 标准名称 |
| SJ 2757-1987 | 219 | SJ 2757-1987 | [PDF]天数 <=2 | 重掺半导体载流子浓度的红外反射测试方法 |
| 基本信息 | |
|---|---|
| 标准编号 | SJ 2757-1987 (SJ2757-1987) |
| 中文名称 | 重掺半导体载流子浓度的红外反射测试方法 |
| 英文名称 | Method of measurement by infra-red reflection for charge carrier concentraiton of heavily doped semiconductors |
| 行业 | 电子行业标准 |
| 中标分类 | L90 |
| 字数估计 | 5,524 |
| 发布日期 | 2/10/1987 |
| 实施日期 | 7/1/1987 |
| 标准依据 | 工科(2010)第77号 |
| 范围 | 本标准适用于测量重掺半导体体材料载流子浓度, 也适用于测量外延层、埋层和扩散层的载流子、浓度。 |
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