[PDF] SJ/T 10458-1993 - 英文版
| 标准号码 | 美元 | 购买PDF | 工期 | 标准名称(英文版) |
| SJ/T 10458-1993 | 349 | SJ/T 10458-1993 | <=3 | 俄歇电子能谱术和X射线光电子能谱术的样品处理标准导则 |
| 基本信息 | |
|---|---|
| 标准编号 | SJ/T 10458-1993 (SJ/T10458-1993) |
| 中文名称 | 俄歇电子能谱术和X射线光电子能谱术的样品处理标准导则 |
| 英文名称 | Standard guide for specimen handling in auger electron spectroscopy and X-ray photoelectron spectroscopy |
| 行业 | 电子行业标准 (推荐) |
| 中标分类 | A42 |
| 字数估计 | 10,122 |
| 发布日期 | 12/17/1993 |
| 实施日期 | 6/1/1994 |
| 采用标准 | ASTM E-1087, MOD |
| 范围 | 本标准导则适用于俄歇电子能谱术(AES)和X射线光电子能谱术(XPS), 也适用于其他表面灵敏分析技术(如离子散射谱术、二次离子质谱术等)。本标准导则可能涉及有害的操作、设备及物质, 但没有说明所有相关的安全问题。使用者在使用本导则前, 应该制定适当的安全与保健措施, 并确定本导则的应用范围。 |
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