[PDF] SJ/T 10741-2000 - 英文版
| 标准号码 | 美元 | 购买PDF | 工期 | 标准名称(英文版) |
| SJ/T 10741-2000 | RFQ | 点击询价 | <=9 | 半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 |
| 基本信息 | |
|---|---|
| 标准编号 | SJ/T 10741-2000 (SJ/T10741-2000) |
| 中文名称 | 半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 |
| 英文名称 | Semiconductor integrated circuits General principles of measuring methods for CMOS circuits |
| 行业 | 电子行业标准 (推荐) |
| 中标分类 | L56 |
| 国际标准分类 | 31.2 |
| 字数估计 | 37,399 |
| 发布日期 | 12/28/2000 |
| 实施日期 | 3/1/2001 |
| 旧标准 (被替代) | SJ/T 10741-1996(GB 3834-1983) |
| 标准依据 | 工业和信息化部公告2011年第25号 |
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