[PDF] YS/T 27-1992 - 英文版
| 标准号码 | 美元 | 购买PDF | 工期 | 标准名称(英文版) |
| YS/T 27-1992 | 199 | YS/T 27-1992 | <=2 | 晶片表面上微粒沾污测量和计数的方法 |
| 基本信息 | |
|---|---|
| 标准编号 | YS/T 27-1992 (YS/T27-1992) |
| 中文名称 | 晶片表面上微粒沾污测量和计数的方法 |
| 英文名称 | (Particulate contamination on the wafer surface and the measurement method of counting) |
| 行业 | 有色冶金行业标准 (推荐) |
| 中标分类 | H21 |
| 字数估计 | 3,349 |
| 发布日期 | 3/9/1992 |
| 实施日期 | 1/1/1993 |
| 标准依据 | 发改委公告2005年第45号 |
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