路径: 主页 > GB/T > 第393页 > GB/T 14145-1993 | 标准编号 | GB/T 14145-1993 (GB/T14145-1993) | | 中文名称 | 硅外延层堆垛层错密度测定干涉相衬显微镜法 | | 英文名称 | Test method for stacking fault density of epitaxial layers of silicon by interference contrast microscopy | | 行业 | 国家标准 (推荐) | | 中标分类 | H81 | | 国际标准分类 | 29.040.30 | | 字数估计 | 5,597 | | 发布日期 | 2/6/1993 | | 实施日期 | 10/1/1993 | | 标准依据 | National Standard Committee Bulletin (2005 No. 146) | | 发布机构 | 国家技术监督局 | ......
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