路径: 主页 > GB/T > 第255页 > GB/T 15174-2017 | 标准编号 | GB/T 15174-2017 (GB/T15174-2017) | | 中文名称 | 可靠性增长大纲 | | 英文名称 | Programmes for reliability growth | | 行业 | 国家标准 (推荐) | | 中标分类 | L05 | | 国际标准分类 | 03.120.10; 03.120.30 | | 字数估计 | 32,338 | | 发布日期 | 2017-11-01 | | 实施日期 | 2018-05-01 | | 旧标准 (被替代) | GB/T 15174-1994 | | 标准依据 | 国家标准公告2017年第29号 | | 发布机构 | 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会 | GB/T 15174-2017
Programmes for reliability growth
ICS 03.120.10;03.120.30
L05
中华人民共和国国家标准
代替GB/T 15174-1994
可 靠 性 增 长 大 纲
(IEC 61014.2003,IDT)
2017-11-01发布
2018-05-01实施
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局
中国国家标准化管理委员会发布
目次
前言 Ⅲ
1 范围 1
2 规范性引用文件 1
3 术语和定义 1
4 基本概念 7
4.1 概述 7
4.2 薄弱环节和失效的根源 7
4.3 产品研制过程的可靠性增长基本概念;综合可靠性工程概念 8
4.4 试验阶段产品可靠性增长基本概念 8
4.5 设计阶段可靠性增长计划和达到的可靠性的估计 9
5 管理 12
5.1 概述 12
5.2 设计阶段的程序和过程 13
5.3 沟通协调机制 13
5.4 设计阶段的人力及费用 14
5.5 费用效益 15
6 可靠性增长大纲的计划和执行 15
6.1 综合可靠性增长概念和综述 15
6.2 设计阶段的可靠性增长活动 16
6.3 确认试验阶段的可靠性增长活动 18
6.4 可靠性增长试验的考虑 18
7 现场可靠性增长 28
参考文献 29
前言
本标准按照GB/T 1.1-2009给出的规则起草。
本标准代替GB/T 15174-1994《可靠性增长大纲》。与GB/T 15174-1994相比,主要技术变化如下.
---增加了部分术语和定义(见第3章);
---增加了产品研制阶段、试验阶段、设计阶段可靠性增长基本概念部分的内容(见第4章);
---增加了设计阶段的程序和过程、人力及费用部分的内容(见第5章);
---增加了综合可靠性增长概念和综述、设计阶段的可靠性增长活动、确认试验阶段的可靠性增长
活动章的内容,并将1994年版的第7、8、9、10章的内容放到第6章,作了更加详细的说明(见
第6章);
---将1994年版第7章部分内容放到第6章,增加了现场可靠性增长部分的内容(见第6章);
---删除了附录A(见1994年版的附录A)。
本标准使用翻译法等同采用IEC 61014.2003《可靠性增长大纲》。
与本标准中规范性引用的国际文件有一致性对应关系的我国文件如下.
---GB/T 5080.2-2012 可靠性试验 第2部分.试验周期设计(IEC 60605-2.1994,IDT);
---GB/T 6992.1-1995 可信性管理 第1部分.可信性大纲管理(IEC 60300-1.1993,IDT);
---GB/T 7288(所有部分) 设备可靠性试验 推荐的试验条件[IEC 60605-3(所有部分)];
---GB/T 7826-2012 系统可靠性分析技术 失效模式和效应分析(FMEA)程序(IEC 60812.
2006,IDT);
---GB/T 7828-1987 设计评审(IEC 61160.2005,NEQ);
---GB/T 7829-1987 故障树分析程序(IEC 61025.2006,NEQ)。
本标准与IEC 61014.2003相比,做了下列编辑性修改.
---6.4.3最后一段引用的威布尔分析标准IEC 60605-4,存在引用错误,在本标准中修改为威布尔
分析标准IEC 61649,同时,在本标准规范性引用文件中增加威布尔分析标准IEC 61649;
---在图8中,在所有条件判断框后面增加了“是”与“否”的判断回答;
---在图10中,参照GB/T 15174-1994,在图标题前增加了图注。
本标准由中华人民共和国工业和信息化部提出。
本标准由全国电工电子产品可靠性与维修性标准化技术委员会(SAC/TC24)归口。
本标准起草单位.工业和信息化部电子第五研究所、北京航空工程技术研究中心、芜湖赛宝信息产
业技术研究院有限公司、北京大学。
本标准主要起草人.高军、梅文华、侯卫国、黄永华、李东风、程德斌、时钟。
本标准所代替标准的历次版本发布情况为.
---GB/T 15174-1994。
可 靠 性 增 长 大 纲
1 范围
本标准规定了暴露和排除硬件和软件产品中的薄弱环节的要求和导则,以达到可靠性增长的目的。
本标准适用于当产品规范要求设备(电子、机电、机械硬件及软件)有可靠性增长大纲或已知设计若
不改进则不可能满足要求时。
本标准主要内容包括基本概念,管理、计划、试验(实验室和现场试验)、失效分析和改进技术。为了
估计增长后达到的可靠性水平,还简略概述了数学模型。
2 规范性引用文件
下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本文
件。凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。
GB/T 5080.1-2012 可靠性试验 第1部分.试验条件和统计检验原理(IEC 60300-3-5.2001,
IDT)
IEC 60300-3-1 可信性管理 第3-1部分.应用指南 可信性分析技术 方法学指导(Dependability
IEC 61160 设计评审(Formaldesignreview)
IEC 61649 威布尔分析(Weibulanalysis)
3 术语和定义......
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