路径: 主页 > GB/T > 第393页 > GB/T 16822-1997 | 标准编号 | GB/T 16822-1997 (GB/T16822-1997) | | 中文名称 | 介电晶体介电性能的试验方法 | | 英文名称 | Test method for dielectric properties of dielectric crystal | | 行业 | 国家标准 (推荐) | | 中标分类 | H82 | | 国际标准分类 | 31.02 | | 字数估计 | 5,522 | | 发布日期 | 5/28/1997 | | 实施日期 | 2/1/1998 | | 发布机构 | 国家技术监督局 | | 范围 | 本标准规定了介电晶体的低频(10MHz以下)介电系数及介电损耗的试验方法。本标准适用于介电晶体的介电性能的测定。 | ......
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