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[PDF] GB/T 22889-2021 - 自动发货. 英文版

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GB/T 22889-2021 英文版 170 GB/T 22889-2021 3分钟内自动发货[PDF],有增值税发票。 皮革 物理和机械试验 表面涂层厚度的测定 有效

基本信息
标准编号 GB/T 22889-2021 (GB/T22889-2021)
中文名称 皮革 物理和机械试验 表面涂层厚度的测定
英文名称 Leather - Physical and mechanical tests - Determination of surface coating thickness
行业 国家标准 (推荐)
中标分类 Y46
国际标准分类 59.140.30
字数估计 10,122
发布日期 2021-05-21
实施日期 2021-12-01
旧标准 (被替代) GB/T 22889-2008
起草单位 广州质量监督检测研究院、广东熊猫服饰实业有限公司、浙江工业职业技术学院、东莞奇石试验设备有限公司、嘉兴市皮毛和制鞋工业研究所、浙江通天星集团股份有限公司、佛山市顺德区质量技术监督标准与编码所、中国皮革制鞋研究院有限公司、中轻检验认证有限公司、北京和众视野科技有限公司
归口单位 全国皮革工业标准化技术委员会(SAC/TC 252)
标准依据 国家标准公告2021年第7号
提出机构 中国轻工业联合会
发布机构 国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会

GB/T 22889-2021: 皮革 物理和机械试验 表面涂层厚度的测定
GB/T 22889-2021 英文名称: Leather - Physical and mechanical tests - Determination of surface coating thickness
1 范围
本标准规定了皮革表面涂层厚度的试验方法。
本标准适用于各种类型皮革表面涂层厚度的测定。
2 规范性引用文件
下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本文
件。凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。
GB/T 39364 皮革 化学、物理、机械和色牢度试验 取样部位(GB/T 39364-2020,ISO 2418:
2017,MOD)
QB/T 2707 皮革 物理和机械试验 试样的准备和调节(QB/T 2707-2018,ISO 2419:2012,
MOD)
3 原理
垂直于皮革涂层表面切割皮革,用显微镜测量皮革表面涂层的厚度,结果以涂层厚度和涂层厚度占
皮革总厚度的百分比表示。
注:本方法测定的为皮革无压缩状态下的表面涂层厚度。
4 仪器设备
4.1 光学显微镜或扫描电子显微镜,能在1mm×1mm或更低的视场范围内操作,并满足以下任一
条件:
---配有连接计算机(分辨率至少为500×500像素)的相机图像单元;
---配有照相单元;
---配有带刻度尺的目镜(放大倍数≥100)。
注:放大倍数为100时相当于把10μm的视场放大到1mm×1mm的视场。
对于涂层厚度< 50μm的试样,应使用0.4mm×0.4mm或更低的视场;对于涂层厚度< 15μm的
试样,宜使用带有合适视场范围的扫描电子显微镜。
4.2 刀片,或其他类似锋利的器具。
4.3 网格或其他校准装置,适用于光学显微镜或扫描电子显微镜,精度≥10μm。
4.4 涂覆装置,采用溅射或蒸发模式,能够为涂层涂覆包含有特定的元素或合金(如金)层,仅用于扫描
电子显微镜。
4.5 样品托,仅用于扫描电子显微镜。
5 取样及试样的制备
5.1 取样
按GB/T 39364的规定进行。如果不能从标准部位取样(如直接从鞋、服装上取样),应在可利用面
积内的任意部位取样,试样应具有代表性,并在试验报告中注明。
5.2 空气调节
按QB/T 2707的规定进行。
5.3 试样的制备
切取3个长度至少为10mm的试样。将刀片(4.2)的刀刃放在试样肉面上,使刀片与皮革表面垂
直,在皮革整个厚度上进行切割,切割过程中应确保刀片保持垂直。建议每次切割使用新的刀片。
若同一批次产品中有2张以上的样品需要测试,在每张样品上切取1个试样,试样总量不少于
3个。
若使用扫描电子显微镜,将制备好的试样截面(切割面)向上粘附在样品托(4.5)上,然后置于涂覆
装置(4.4)对试样和样品托进行涂覆,以得到清晰度较高的图片。
6 试验步骤
6.1 通则
6.1.1 测量原理
本标准规定了2种测量皮革表面涂层厚度的基本原理。
方法A是基于测量几个等距位置点处的数值(见图1),该方法确定了统计结果的标准偏差。
方法B是基于测量平行线(见图2),由于该过程中试验人员必须手动确定波峰和波谷之间的网格
刻度,故无法统计评估结果。该方法包含了平均值的计算。
推荐优先选择方法A。
方法A和方法B均可用于光学显微镜及扫描电子显微镜,仪器校准和试样测量时的工作距离及扫
描电子显微镜的加速电压应保持一致。
6.1.2 放大和校准
由于皮革表面涂层厚度(如10μm~200μm)和皮革总厚度(如800μm~3000μm)的多样性,测试
通常需使用不同放大倍数的显微镜。
对于每次测量,选择一个合适的能可靠测量厚度的放大倍数。
按6.2和6.3的规定对每次使用的放大倍数的测量系统进行校准。
6.2 方法A-基于等距位置点的测量
6.2.1 使用合适的计算机编程作为分析单元显微镜的测量
6.2.1.1 按照仪器操作说明手册,使用网格(4.3)对显微镜(4.1)的测量系统进行校准。
6.2.1.2 将制备好的试样(5.3)放在显微镜下,在试样截面的任一点开始测量,并将该点调节至视场中
央,根据测试系统的软件,在涂层和皮革的边界上设置测量的起始点。
6.2.1.3 然后在皮革表面垂直于涂层和皮革的边界方向上设置测量点(见图1),记录两测量点之间的
距离。
6.2.1.4 将显微镜载物台移动一个视场的距离或者某个固定的偏移量(50μm~500μm),使试样平行
于表面,从而视场中央出现一个新的测量点。两次测量点之间的距离应大于涂层厚度。按照6.2.1.3规
定的试验步骤在该点处测量涂层厚度。
6.2.1.5 按照6.2.1.2~6.2.1.4规定的试验步骤继续测量,至少测量六次,六个等距测量点之间的总距
离应至少包含一个完整的波峰波谷(必要时)。
6.2.1.6 通过6.2.1.1规定的校准方法将所测数据转换为微米(μm)。
6.2.1.7 调整测量点至皮革肉面,按6.2.1.1~6.2.1.6规定的试验步骤测量皮革试样的总厚度。
6.2.1.8 按6.2.1.1~6.2.1.7规定的试验步骤对另外两个试样进行测量。
6.2.1.9 分别计算所有涂层厚度和试样总厚度测量值的算术平均值。对于涂层厚度≥50μm的试样,
计算结果精确至5μm;对于涂层厚度< 50μm的试样,计算结果精确至2μm。
6.2.2 使用带有刻度尺的光学显微镜测量
6.2.2.1 使用网格(4.3)对显微镜(4.1)的测量系统进行校准。
6.2.2.2 将制备好的试样(5.3)放在显微镜下,在试样截面的任一点开始测量,并将该点调节至视场中
央,调整试样位置,使显微镜刻度尺的十字线或一个主刻度线在该点处与涂层和皮革的边界对齐,记录
涂层外表面处刻度线的读数。
6.2.2.3 将显微镜载物台移动一个视场的距离或者某个固定的偏移量(50μm~500μm),使试样平行
于表面,从而视场中央出现一个新的测量点。两次测量点之间的距离应大于涂层厚度。按照6.2.2.2规
定的试验步骤在该点处测量涂层厚度。
6.2.2.4 按照6.2.2.2~6.2.2.3规定的试验步骤继续测量,至少测量六次,六个等距测量点之间的总距
离应至少包含一个完整的波峰波谷(必要时)。
6.2.2.5 通过6.2.2.1规定的校准方法将所测数据转换为微米(μm)。
6.2.2.6 将显微镜的刻度线调整至与皮革肉面对齐,按6.2.2.2~6.2.2.5规定的试验步骤测量皮革试样
的总厚度。
6.2.2.7 按6.2.2.2~6.2.2.6规定的试验步骤对另外两个试样进行测量。
6.2.2.8 按6.2.1.9的规定进行计算。
6.3 方法B-基于平行线的测量
6.3.1 使用合适的计算机编程作为分析单元显微镜的测量
6.3.1.1 按照仪器操作说明手册,使用网格(4.3)对显微镜(4.1)的测量系统进行校准。
6.3.1.2 将制备好的试样(5.3)放在显微镜下,调整试样位置,使计算机程序中的测量线与涂层和皮革
的边界对齐。若涂层和皮革的边界呈波浪形,调节使测量线处于边界波峰与波谷的中间(见图2)。按
照计算机规定的程序,以同样的方式调整测量线使其与涂层外表面对齐,记录两测量线之间的距离。
6.3.1.3 调整测量线使其与皮革肉面对齐,按6.3.1.2规定的方法测量皮革试样的总厚度,记录两测量
线之间的距离。
6.3.1.4 通过6.3.1.1规定的校准方法将所测数据转换为微米(μm)。
6.3.1.5 按6.3.1.2~6.3.1.4规定的试验步骤对另外两个试样进行测定。
6.3.1.6 分别计算三个试样涂层厚度和试样总厚度的算术平均值,对于涂层厚度≥50μm的试样,结果
精确至5μm;对于涂层厚度< 50μm 的试样,结果精确至2μm。试样总厚度的计算结果均精确
至10μm。
6.3.2 使用带有刻度尺的光学显微镜测量
6.3.2.1 使用网格(4.3)对显微镜(4.1)的测量系统进行校准。
6.3.2.2 将制备好的试样(5.3)放在显微镜下,调整试样位置,使显微镜刻度尺的十字线或一个主刻度
线与涂层和皮革的边界对齐。若涂层和皮革的边界呈波浪形,调节使十字线或主刻度线处于边界波峰
与波谷的中间(见图2),记录涂层外表面处刻度线的读数。
6.3.2.3 调节使显微镜刻度尺的十字线或一个主刻度线与皮革肉面对齐,按照6.3.2.2规定的方法测量
试样的总厚度,记录涂层外表面处刻度线的读数。
6.3.2.4 通过6.3.2.1规定的校准方法将6.3.2.3和6.3.2.4所测数据转换为微米(μm)。
6.3.2.5 按6.3.2.2~6.3.2.4规定的试验步骤对另外两个试样进行测量。
6.3.2.6 分别计算三个试样涂层厚度和试样总厚度的算术平均值,对于涂层厚度≥50μm的试样,结果
精确至5μm;对于涂层厚度< 50μm 的试样,结果精确至2μm。试样总厚度的计算结果均精确
至10μm。
6.3.3 使用带有照相功能的显微镜测量
6.3.3.1 将网格(4.3)放在显微镜下,拍照并打印。
6.3.3.2 将制备好的试样(5.3)放在显微镜下,在与6.3.3.1同等放大倍数的条件下拍照并打印。
6.3.3.3 若试样与网格在同等放大倍数下打印(6......
   
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