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[PDF] GB/T 30705-2014 - 英文版

标准号码	内文	价格美元	第2步(购买)	交付天数	标准名称	状态
GB/T 30705-2014	英文版	439	GB/T 30705-2014	[PDF]天数 >=4	微束分析电子探针显微分析波谱法实验参数测定导则	有效

基本信息
标准编号	GB/T 30705-2014 (GB/T30705-2014)
中文名称	微束分析电子探针显微分析波谱法实验参数测定导则
英文名称	Microbeam analysis -- Electron probe microanalysis -- Guidelines for the determination of experimental parameters for wavelength dispersive spectroscopy
行业	国家标准 (推荐)
中标分类	G04
国际标准分类	71.040.50
字数估计	19,124
发布日期	6/9/2014
实施日期	12/1/2014
引用标准	GB/T 27025-2008
采用标准	ISO 14594-2009, MOD
标准依据	国家标准公告2014年第11号
发布机构	中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
范围	本标准规定了进行电子探针分析时的入射电子束、波谱仪和试样的实验参数测定的一般原则, 并规定了束流、束流密度、死时间、波长分辨率、背底、分析面积、分析深度和分析体积的测定过程。本标准适用于垂直入射电子束对抛光试样的分析, 对于其他实验条件, 这些实验参数只能作为参考。本标准不适用于能谱法。

GB/T 30705-2014 G04 中华人民共和国国家标准微束分析电子探针显微分析波谱法实验参数测定导则 (ISO 14594:2009,MOD) 2014-06-09发布 2014-12-01实施中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局中国国家标准化管理委员会发布目次前言 Ⅰ 1 范围 1 2 规范性引用文件 1 3 术语和定义 1 4 缩略语 2 5 实验参数 2 5.1 概要 2 5.2 入射电子束参数 2 5.3 波谱仪参数 3 5.4 试样参数 4 6 测量步骤 4 6.1 概要 4 6.2 束流 4 6.3 谱峰测量参数 5 6.4 试样参数 7 7 实验报告 7 附录A(资料性附录) 分析面积的估算方法 9 附录B(资料性附录) 分析深度的估算方法 11 附录C(资料性附录) X射线分析体积的蒙特卡罗(MC)模拟估算方法 12 参考文献 15 前言本标准按照GB/T 1.1-2009给出的规则起草。本标准使用重新起草法修改采用ISO 14594:2009《微束分析电子探针显微分析波谱法实验参数测定导则》(英文版)。本标准与ISO 14594:2009《微束分析电子探针显微分析波谱法实验参数测定导则》(英文版) 的主要技术差异: ---用GB/T 27025:2008代替ISO Guide25:1990; ---将第7章中ISO Guide25:1990的13.2项修改为GB/T 27025-2008的5.10。本标准由全国微束分析标准化技术委员会(SAC/TC38)提出并归口。本标准起草单位:中国科学院上海硅酸盐研究所。本标准主要起草人:曾毅、李香庭、吴伟。微束分析电子探针显微分析波谱法实验参数测定导则 1 范围本标准规定了进行电子探针分析时的入射电子束、波谱仪和试样的实验参数测定的一般原则,并规定了束流、束流密度、死时间、波长分辨率、背底、分析面积、分析深度和分析体积的测定过程。本标准适用于垂直入射电子束对抛光试样的分析,对于其他实验条件,这些实验参数只能作为参考。本标准不适用于能谱法。 2 规范性引用文件下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。 GB/T 27025-2008 检测和校准实验室能力的通用要求(ISO/IEC 17025:2005,IDT) 3 术语和定义下列术语和定义适用于本文件。 3.1 分析面积 analysisarea 能检测到全部信号或者规定百分数信号的试样表面的二维区域。 3.2 分析深度 analysisdepth 从试样表面到作用体积底部的垂直距离,经过该距离能检测到全部信号或者规定百分数的信号。 3.3 分析体积 analysisvolume 试样中X射线发射的三维区域,在该区域内的全部信号或者规定百分数信号能被检测到。 3.4 背底 Background 由连续X射线产......

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