搜索结果: GB/T 30705-2014, GB/T30705-2014, GBT 30705-2014, GBT30705-2014
| 标准编号 | GB/T 30705-2014 (GB/T30705-2014) | | 中文名称 | 微束分析 电子探针显微分析 波谱法实验参数测定导则 | | 英文名称 | Microbeam analysis -- Electron probe microanalysis -- Guidelines for the determination of experimental parameters for wavelength dispersive spectroscopy | | 行业 | 国家标准 (推荐) | | 中标分类 | G04 | | 国际标准分类 | 71.040.50 | | 字数估计 | 19,124 | | 发布日期 | 6/9/2014 | | 实施日期 | 12/1/2014 | | 引用标准 | GB/T 27025-2008 | | 采用标准 | ISO 14594-2009, MOD | | 标准依据 | 国家标准公告2014年第11号 | | 发布机构 | 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会 | | 范围 | 本标准规定了进行电子探针分析时的入射电子束、波谱仪和试样的实验参数测定的一般原则, 并规定了束流、束流密度、死时间、波长分辨率、背底、分析面积、分析深度和分析体积的测定过程。本标准适用于垂直入射电子束对抛光试样的分析, 对于其他实验条件, 这些实验参数只能作为参考。本标准不适用于能谱法。 | GB/T 30705-2014
G04
中华人民共和国国家标准
微束分析 电子探针显微分析
波谱法实验参数测定导则
(ISO 14594:2009,MOD)
2014-06-09发布
2014-12-01实施
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局
中国国家标准化管理委员会发布
目次
前言 Ⅰ
1 范围 1
2 规范性引用文件 1
3 术语和定义 1
4 缩略语 2
5 实验参数 2
5.1 概要 2
5.2 入射电子束参数 2
5.3 波谱仪参数 3
5.4 试样参数 4
6 测量步骤 4
6.1 概要 4
6.2 束流 4
6.3 谱峰测量参数 5
6.4 试样参数 7
7 实验报告 7
附录A(资料性附录) 分析面积的估算方法 9
附录B(资料性附录) 分析深度的估算方法 11
附录C(资料性附录) X射线分析体积的蒙特卡罗(MC)模拟估算方法 12
参考文献 15
前言
本标准按照GB/T 1.1-2009给出的规则起草。
本标准使用重新起草法修改采用ISO 14594:2009《微束分析 电子探针显微分析 波谱法实验参
数测定导则》(英文版)。
本标准与ISO 14594:2009《微束分析 电子探针显微分析 波谱法实验参数测定导则》(英文版)
的主要技术差异:
---用GB/T 27025:2008代替ISO Guide25:1990;
---将第7章中ISO Guide25:1990的13.2项修改为GB/T 27025-2008的5.10。
本标准由全国微束分析标准化技术委员会(SAC/TC38)提出并归口。
本标准起草单位:中国科学院上海硅酸盐研究所。
本标准主要起草人:曾毅、李香庭、吴伟。
微束分析 电子探针显微分析
波谱法实验参数测定导则
1 范围
本标准规定了进行电子探针分析时的入射电子束、波谱仪和试样的实验参数测定的一般原则,并规
定了束流、束流密度、死时间、波长分辨率、背底、分析面积、分析深度和分析体积的测定过程。
本标准适用于垂直入射电子束对抛光试样的分析,对于其他实验条件,这些实验参数只能作为
参考。
本标准不适用于能谱法。
2 规范性引用文件
下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本文
件。凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。
GB/T 27025-2008 检测和校准实验室能力的通用要求(ISO/IEC 17025:2005,IDT)
3 术语和定义
下列术语和定义适用于本文件。
3.1
分析面积 analysisarea
能检测到全部信号或者规定百分数信号的试样表面的二维区域。
3.2
分析深度 analysisdepth
从试样表面到作用体积底部的垂直距离,经过该距离能检测到全部信号或者规定百分数的信号。
3.3
分析体积 analysisvolume
试样中X射线发射的三维区域,在该区域内的全部信号或者规定百分数信号能被检测到。
3.4
背底 Background
由连续X射线产......
|