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| 标准编号 | GB/T 44766-2024 (GB/T44766-2024) | | 中文名称 | 微波电路 限幅器测试方法 | | 英文名称 | Microwave circuits - Measuring methods for limiter | | 行业 | 国家标准 (推荐) | | 中标分类 | L58 | | 国际标准分类 | 31.200 | | 字数估计 | 21,260 | | 发布日期 | 2024-10-26 | | 实施日期 | 2025-05-01 | | 发布机构 | 国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会 |
GB/T 44766-2024: 微波电路 限幅器测试方法
ICS 31.200
CCSL58
中华人民共和国国家标准
微波电路 限幅器测试方法
2024-10-26发布
2025-05-01实施
国 家 市 场 监 督 管 理 总 局
国 家 标 准 化 管 理 委 员 会 发 布
目次
前言 Ⅲ
1 范围 1
2 规范性引用文件 1
3 术语和定义 1
4 测试条件、仪器和设备 2
4.1 测试条件 2
4.2 测试仪器和设备 3
4.3 注意事项 3
5 参数测试 3
5.1 插入损耗(Li) 3
5.2 插损平坦度(ΔLi) 5
5.3 电压驻波比(VSWRi、VSWRo) 5
5.4 限幅电平(Plim) 6
5.5 尖峰泄漏功率(Pleak(spike)) 7
5.6 平坦泄露功率(Pleak(flat)) 8
5.7 尖峰能量(Wl) 8
5.8 承受功率(Pcwm、Ppm) 9
5.9 1dB压缩输出功率(Po(1dB)) 10
5.10 响应时间(tres) 11
5.11 恢复时间(tr) 12
5.12 反射功率(Pr) 13
5.13 三阶交调(IP3) 14
5.14 三阶交调截点功率(POIP3) 15
前言
本文件按照GB/T 1.1-2020《标准化工作导则 第1部分:标准化文件的结构和起草规则》的规定
起草。
请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别专利的责任。
本文件由中华人民共和国工业和信息化部提出。
本文件由全国集成电路标准化技术委员会(SAC/TC599)归口。
本文件起草单位:中国电子科技集团公司第五十五研究所、中国电子技术标准化研究院、南京国博
电子股份有限公司、中国电子科技集团公司第十三研究所。
本文件主要起草人:都小凡、周光辉、汤朔、向虎、邓世雄、吴维丽。
微波电路 限幅器测试方法
1 范围
本文件描述了微波电路限幅器主要电参数的测试方法。
本文件适用于微波电路限幅器,包含无源限幅器、半有源限幅器、有源限幅器等。
2 规范性引用文件
下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本文件必不可少的条款。其中,注日期的引用文
件,仅该日期对应的版本适用于本文件;不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于
本文件。
注:GB/T 17573-1998 半导体器件 分立器件和集成电路 第1部分:总则(IEC 747-1:1983,IDT)
3 术语和定义
下列术语和定义适用于本文件。
3.1
插入损耗 insertionloss
Li
限幅器小信号工作时,输入功率与输出功率之比。
3.2
ΔLi
限幅器小信号工作时,工作频带内插入损耗最大值与最小值之差。
3.3
VSWR
在均匀无耗传输线上,电压振幅最大值与电压振幅最小值之比。输入端的电压驻波比即为输入电
压驻波比VSWRi,输出端的电压驻波比即为输出电压驻波比VSWRo。
3.4
Plim
......
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