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标准号码 |
标准名称 |
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GB/T 38258-2019
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信息技术 虚拟现实应用软件基本要求和测试方法
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GB/T 38259-2019
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信息技术 虚拟现实头戴式显示设备通用规范
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GB/T 36448-2018
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集装箱式数据中心机房通用规范
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GB/T 29811.3-2018
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信息技术 学习、教育和培训 学习系统体系结构与服务接口 第3部分：资源访问服务接口
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GB/T 32910.2-2017
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数据中心 资源利用 第2部分：关键性能指标设置要求
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GB/T 17971.1-2010
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信息技术 文本和办公系统的键盘布局 第1部分：指导键盘布局通则
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GB/T 17971.2-2010
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信息技术 文本和办公系统的键盘布局 第2部分：字母数字区
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GB/T 17971.3-2010
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信息技术 文本和办公系统的键盘布局 第3部分:字母数字区的字母数字分区的补充布局
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GB/T 17971.4-2010
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信息技术 文本和办公系统的键盘布局 第4部分：数字区
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GB/T 17971.5-2010
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信息技术 文本和办公系统的键盘布局 第5部分：编辑区
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GB/T 17971.6-2010
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信息技术 文本和办公系统的键盘布局 第6部分：功能区
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GB/T 17971.7-2010
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信息技术 文本和办公系统的键盘布局 第7部分：用于表示功能的符号
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GB/T 17971.8-2010
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信息技术 文本和办公系统的键盘布局 第8部分：数字小键盘上字母的分配
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GB/T 25654-2010
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手持电子产品嵌入式软件API
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GB/T 5271.17-2010
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信息技术 词汇 第17部分：数据库
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GB/T 5271.26-2010
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信息技术 词汇 第26部分：开放系统互连
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GB/T 11460-2009
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信息技术 汉字字型要求和检测方法
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GB/T 21364-2008
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信息技术 学习、教育和培训 基于规则的XML绑定技术
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GB/T 21365-2008
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信息技术 学习、教育和培训 学习对象元数据
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GB/T 21366-2008
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信息技术 学习、教育和培训 参与者标识符
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GB/T 5271.19-2008
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信息技术 词汇 第19部分：模拟计算
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GB/T 5271.3-2008
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信息技术 词汇 第3部分：设备技术
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GB/T 5271.5-2008
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信息技术 词汇 第5部分：数据表示
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GB/T 5271.29-2006
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信息技术 词汇 第29部分：人工智能 语音识别与合成
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GB/T 5271.31-2006
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信息技术 词汇 第31部分：人工智能 机器学习
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GB/T 5271.32-2006
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信息技术 词汇 第32部分：电子邮件
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GB/T 5271.34-2006
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信息技术 词汇 第34部分：人工智能 神经网络
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GB/T 11460-2000
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信息技术 汉字字型数据的检测方法
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GB/T 17971.2-2000
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信息技术 文本和办公系统键盘布局 第2部分:字母数字区
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GB/T 17971.3-2000
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信息技术 文本和办公系统键盘布局 第3部分:字母数字区的字母数字分区补充布局
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GB/T 15312-1994
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制造业自动化 术语
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GB/T 11460-1989
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信息处理设备中汉字点阵字模数据的检测方法
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GB/T 9361-1988
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计算站场地安全要求
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GB/T 44513-2024
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微机电系统（MEMS）技术 传感器用MEMS压电薄膜的环境试验方法
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GB/T 44514-2024
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微机电系统（MEMS）技术 层状MEMS材料界面黏附能四点弯曲试验方法
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GB/T 44515-2024
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微机电系统（MEMS）技术 MEMS压电薄膜机电转换特性测量方法
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GB/T 44517-2024
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微机电系统（MEMS）技术 MEMS膜残余应力的晶圆曲率和悬臂梁挠度试验方法
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GB/T 44529-2024
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微机电系统（MEMS）技术 射频MEMS环行器和隔离器
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GB/T 44531-2024
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微机电系统（MEMS）技术 基于MEMS技术的车规级压力传感器技术规范
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GB/T 44919-2024
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微机电系统（MEMS）技术 薄膜力学性能的鼓胀试验方法
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GB/T 44839-2024
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微机电系统（MEMS）技术 MEMS材料微柱压缩试验方法
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GB/T 44842-2024
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微机电系统（MEMS）技术 薄膜材料的弯曲试验方法
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GB/T 44849-2024
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微机电系统（MEMS）技术 金属膜材料成形极限测量方法
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GB/T 42158-2023
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微机电系统（MEMS）技术 微沟槽和棱锥式针结构的描述和测量方法
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GB/T 26111-2023
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微机电系统（MEMS）技术 术语
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GB/T 42191-2023
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MEMS压阻式压力敏感器件性能试验方法
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GB/T 42597-2023
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微机电系统（MEMS）技术 陀螺仪
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GB/T 42895-2023
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微机电系统（MEMS）技术 硅基MEMS微结构弯曲强度试验方法
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GB/T 42896-2023
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微机电系统（MEMS）技术 硅基MEMS纳尺度结构冲击试验方法
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GB/T 42897-2023
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微机电系统（MEMS）技术 硅基MEMS纳米厚度膜抗拉强度试验方法
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GB/T 44766-2024
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微波电路 限幅器测试方法
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GB/T 35001-2018
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微波电路 噪声源测试方法
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GB/T 35002-2018
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微波电路 频率源测试方法
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GB/T 35011-2018
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微波电路 压控振荡器测试方法
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GB/T 15295-1994
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电缆分配系统用混合集成电路高频宽带放大器系列和品种
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GB/T 44797-2025
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微波混合集成电路 合成频率源
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GB/T 23025-2024
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信息化和工业化融合管理体系 生产设备运行管控信息模型分类与应用指南
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GB/T 43035-2023
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半导体器件 集成电路 第20部分：膜集成电路和混合膜集成电路总规范 第一篇：内部目检要求
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GB/T 43041-2023
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混合集成电路 直流/直流（DC/DC）变换器
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GB/T 11498-2018
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半导体器件 集成电路 第21部分: 膜集成电路和混合膜集成电路分规范(采用鉴定批准程序)
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GB/T 13062-2018
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半导体器件 集成电路 第21-1部分: 膜集成电路和混合膜集成电路空白详细规范(采用鉴定批准程序)
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GB/T 16465-1996
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膜集成电路和混合膜集成电路分规范(采用能力批准程序)
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GB/T 16466-1996
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膜集成电路和混合膜集成电路空白详细规范(采用能力批准程序)
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GB/T 11498-1989
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膜集成电路和混合膜集成电路分规范(采用鉴定批准程序)(可供认证用)
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GB/T 2704-1981
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厚膜,薄膜集成电路型号命名方法
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GB/T 44635-2024
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静电放电敏感度试验 传输线脉冲 器件级
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GB/T 42968.4-2024
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集成电路 电磁抗扰度测量 第4部分：射频功率直接注入法
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GB/T 44924-2024
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半导体集成电路 射频发射器/接收器测试方法
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GB/T 44937.4-2024
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集成电路 电磁发射测量 第4部分：传导发射测量 1Ω/150Ω直接耦合法
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GB/T 20870.4-2024
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半导体器件 第16-4部分：微波集成电路 开关
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GB/T 42968.2-2024
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集成电路 电磁抗扰度测量 第2部分：辐射抗扰度测量 TEM小室和宽带TEM小室法
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GB/T 43034.2-2024
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集成电路 脉冲抗扰度测量 第2部分: 同步瞬态注入法
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GB/T 44777-2024
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知识产权（IP）核保护指南
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GB/T 44795-2024
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系统级封装（SiP）一体化基板通用要求
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GB/T 44798-2024
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复杂集成电路设计保证指南
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GB/T 44801-2024
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系统级封装（SiP）术语
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GB/T 44806.1-2024
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集成电路 收发器的EMC评估 第1部分：通用条件和定义
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GB/T 44807.1-2024
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集成电路电磁兼容建模 第1部分：通用建模框架
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GB/T 20870.10-2023
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半导体器件 第16-10部分：单片微波集成电路技术可接收程序
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GB/T 20870.2-2023
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半导体器件 第16-2部分：微波集成电路 预分频器
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GB/T 20870.5-2023
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半导体器件 第16-5部分：微波集成电路 振荡器
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GB/T 42744-2023
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微波电路 电调衰减器测试方法
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GB/T 42835-2023
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半导体集成电路 片上系统（SoC）
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GB/T 42836-2023
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微波半导体集成电路 混频器
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GB/T 42837-2023
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微波半导体集成电路 放大器
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GB/T 42838-2023
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半导体集成电路 霍尔电路测试方法
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GB/T 42839-2023
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半导体集成电路 模拟数字（AD）转换器
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GB/T 42848-2023
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半导体集成电路 直接数字频率合成器测试方法
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GB/T 42968.1-2023
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集成电路 电磁抗扰度测量 第1部分：通用条件和定义
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GB/T 42968.8-2023
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集成电路 电磁抗扰度测量 第8部分：辐射抗扰度测量 IC带状线法
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GB/T 42969-2023
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元器件位移损伤试验方法
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GB/T 42970-2023
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半导体集成电路 视频编解码电路测试方法
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GB/T 42973-2023
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半导体集成电路 数字模拟（DA）转换器
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GB/T 42974-2023
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半导体集成电路 快闪存储器（FLASH）
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GB/T 42975-2023
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半导体集成电路 驱动器测试方法
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GB/T 43034.3-2023
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集成电路 脉冲抗扰度测量 第3部分：非同步瞬态注入法
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GB/T 43452-2023
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模拟/混合信号知识产权（IP）核交付项要求
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GB/T 43453-2023
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模拟/混合信号知识产权（IP）核文档结构指南
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GB/T 43454-2023
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集成电路知识产权（IP）核设计要求
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GB/T 43455-2023
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模拟/混合信号知识产权（IP）核质量评测
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