路径: 主页 > GB/T > 第735页 > GB/T 44937.1-2025 | 标准编号 | GB/T 44937.1-2025 (GB/T44937.1-2025) | | 中文名称 | 集成电路 电磁发射测量 第1部分: 通用条件和定义 | | 英文名称 | Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions - Part 1: General conditions and definitions | | 行业 | 国家标准 (推荐) | | 中标分类 | L56 | | 国际标准分类 | 31.200 | | 字数估计 | 26,277 | | 发布日期 | 2025-12-31 | | 实施日期 | 2026-07-01 | | 发布机构 | 国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会 | GB/T 44937.1-2025: 集成电路 电磁发射测量 第1部分: 通用条件和定义
ICS 31.200
CCSL56
中华人民共和国国家标准
集成电路 电磁发射测量
第1部分:通用条件和定义
(IEC 61967-1:2018,IDT)
2025-12-31发布
2026-07-01实施
国 家 市 场 监 督 管 理 总 局
国 家 标 准 化 管 理 委 员 会 发 布
目次
前言 Ⅲ
引言 Ⅳ
1 范围 1
2 规范性引用文件 1
3 术语和定义 1
4 试验条件 4
4.1 通则 4
4.2 环境条件 5
5 试验设备 5
5.1 通则 5
5.2 屏蔽 5
5.3 RF测量仪器 5
5.4 频率范围 6
5.5 前置放大器或衰减器 6
5.6 系统增益 7
5.7 其他部件 7
6 试验布置 7
6.1 通则 7
6.2 试验电路板 7
6.3 IC引脚负载 7
6.4 电源要求---试验板电源 8
6.5 IC的特殊考虑 8
7 试验程序 8
7.1 环境RF噪声检查 8
7.2 运行检查 9
7.3 具体程序 9
8 试验报告 9
8.1 通则 9
8.2 环境RF噪声 9
8.3 器件的描述 9
8.4 布置的描述 9
8.5 软件的描述 9
8.6 数据表示 9
8.7 RF发射限值 10
8.8 结果说明 10
附录A(资料性) 试验方法比较 11
附录B(资料性) 计数器试验代码的流程图 13
附录C(资料性) 最坏情况应用软件的描述 14
附录D(资料性) 通用试验板的描述 15
D.1 概述 15
D.2 板的描述---机械方面 15
D.3 板的描述---电气方面 17
D.4 地平面 17
D.5 封装引脚 17
D.6 过孔直径 17
D.7 过孔距离 18
D.8 附加的元器件 18
D.9 电源去耦 18
D.10 I/O负载 18
参考文献 19
前言
本文件按照GB/T 1.1-2020《标准化工作导则 第1部分:标准化文件的结构和起草规则》的规定
起草。
本文件是GB/T 44937《集成电路 电磁发射测量》的第1部分。GB/T 44937已经发布了以下
部分:
---第1部分:通用条件和定义;
---第2部分:辐射发射测量 TEM小室和宽带TEM小室法;
---第3部分:辐射发射测量 表面扫描法;
---第4部分:传导发射测量 1Ω/150Ω直接耦合法;
---第5部分:传导发射测量 工作台法拉第笼法;
---第6部分:传导发射测量 磁场探头法;
---第8部分:辐射发射测量 IC带状线法。
本文件等同采用IEC 61967-1:2018《集成电路 电磁发射测量 第1部分:通用条件和定义》。
请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别专利的责任。
本文件由中华人民共和国工业和信息化部提出。
本文件由全国集成电路标准化技术委员会(SAC/TC599)归口。
本文件起草单位:中国电子技术标准化研究院、南京容向测试设备有限公司、北京智芯微电子科技
有限公司、北京国家新能源汽车技术创新中心有限公司、厦门海诺达科学仪器有限公司、天津先进技术
研究院、广州致远电子股份有限公司、中山大学、工业和信息化部电子第五研究所、中国家用电器研究
院、中国汽车工程研究院股份有限公司、中国科学院空间应用工程与技术中心、中国信息通信研究院、
天津大学、中国合格评定国家认可中心、中家院(北京)检测认证有限公司、长沙汽车电器检测中心有限
责任公司、重庆赛力斯新能源汽车设计院有限公司、深圳市立高通科技有限公司、安波福电气系统有限
公司、奇瑞新能源汽车股份有限公司、浙江宏禧科技有限公司、广州金升阳科技有限公司、广东源泉科技
有限公司、四川永贵科技有限公司、苏州瑞可达连接系统股份有限公司、茵诺特斯科技(重庆)有限公司。
本文件主要起草人:崔强、付君、李齐、邢立文、张红丽、朱赛、方文啸、叶畅、徐蛟、原义栋、张艳艳、
李焕然、康志能、陈勇志、邵鄂、李晓智、孙莉、王紫任、刘佳、刘璟轩、黄利、周沛、杜永亿、谢萱萱、王飞、
郑云、尹向阳、冯鸣、向晓东、方海峰、黄发刚。
引 言
为规范集成电路电磁发射测量,以及为集成电路制造商和检测机构提供不同的电磁发射测量方法,
GB/T 44937《集成电路 电磁发射测量》规定了集成电路电磁发射测量的通用条件、定义和不同测量方
法的试验程序和试验要求,拟由9个部分构成。
---第1部分:通用条件和定义。目的在于规定集成电路电磁发射测量的通用条件和定义。
---第1-1部分:通用条件和定义 近场扫描数据交换格式。目的在于规定近场扫描数据交换
格式。
---第2部分:辐射发射测量 TEM小室和宽带TEM小室法。目的在于规定TEM 小室和宽带
TEM小室法的试验程序和试验要求。
---第3部分:辐射发射测量 表面扫描法。目的在于规定表面扫描法的试验程序和试验要求。
---第4部分:传导发射测量 1Ω/150Ω直接耦合法。目的在于规定1Ω/150Ω直接耦合法的
试验程序和试验要求。
---第4-1部分:传导发射测量 1Ω/150Ω直接耦合法应用指南。目的在于给出1Ω/150Ω直
接耦合法应用指导。
---第5部分:传导发射测量 工作台法拉第笼法。目的在于规定工作台法拉第笼法的试验程序
和试验要求。
---第6部分:传导发射测量 磁场探头法。目的在于规定磁场探头法的试验程序和试验要求。
---第8部分:辐射发射测量 IC带状线法。目的在于规定IC带状线法的试验程序和试验要求。
集成电路 电磁发射测量
第1部分:通用条件和定义
1 范围
本文件提供了集成电路的传导和辐射电磁发射测量的通用信息和定义,同时也给出了试验条件、试
验设备、试验布置、试验程序和试验报告内容的描述。附录A中给出了试验方法的对照表,以帮助选择
适当的测量方法。
本文件的目的是描述通用条件,建立一个统一的测试环境以定量测量来自集成电路(IC)的射频
(RF)骚扰。本文件描述了影响试验结果的关键参数。若与本文件的描述有所偏离,需在试验报告中明
确注明。测量结果能用于产品比较或其他用途。
通过对受控条件下IC产生的辐射射频骚扰或传导射频发射的电压和电流的测量,获得IC应用过
程中可能产生的射频骚扰信息。
IEC 61967的每个部分规定了所适用的频率范围。
2 规范性引用文件
下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本文件必不可少的条款。其中,注日期的引用文
件,仅该日期对应的版本适用于本文件;不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于
本文件。
CISPR16-1-1 无线电骚扰和抗扰度测量设备和测量方法规范 第1-1部分:无线电骚扰和抗扰
注:GB/T 6113.101-2021 无线电骚扰和抗扰度测量设备和测量方法规范 第1-1部分:无线电骚扰和抗扰度测
量设备 测量设备(CISPR16-1-1:2019,IDT)
3 术语和定义
下列术语和定义适用于本文件。
3.1
人工网络 artificialnetwork;AN
模拟实际网络对受试......
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