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[PDF] GB/T 44937.4-2024 - 英文版

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GB/T 44937.4-2024	英文版	754	GB/T 44937.4-2024	[PDF]天数 >=6	集成电路电磁发射测量第4部分：传导发射测量 1Ω/150Ω直接耦合法	有效

基本信息
标准编号	GB/T 44937.4-2024 (GB/T44937.4-2024)
中文名称	集成电路电磁发射测量第4部分：传导发射测量 1Ω/150Ω直接耦合法
英文名称	Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions - Part 4: Measurement of conducted emissions - 1Ω/150Ω direct coupling method
行业	国家标准 (推荐)
中标分类	L56
国际标准分类	31.200
字数估计	38,394
发布日期	2024-12-31
实施日期	2024-12-31
发布机构	国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会

GB/T 44937.4-2024: 集成电路电磁发射测量第4部分：传导发射测量 1Ω/150Ω直接耦合法 ICS 31.200 CCSL56 中华人民共和国国家标准集成电路电磁发射测量第4部分:传导发射测量 1Ω/150Ω直接耦合法 1Ω/150Ωdirectcouplingmethod 2024-12-31发布 2024-12-31实施国家市场监督管理总局国家标准化管理委员会发布目次前言 Ⅲ 引言 Ⅳ 1 范围 1 2 规范性引用文件 1 3 术语和定义 1 4 概述 1 4.1 测量基本原理 1 4.2 RF电流测量 2 4.3 IC引脚的RF电压测量 2 4.4 测量技术的评估 3 5 试验条件 3 6 试验设备 3 6.1 RF测量仪 3 6.2 RF电流探头规范 3 6.3 RF电流探头性能的测试 4 6.4 匹配网络 4 7 试验布置 5 7.1 通用试验配置 5 7.2 试验用印制电路板的设计 5 8 试验程序 6 9 试验报告 6 附录A(资料性) 探头验证程序 7 附录B(资料性) 传导发射等级的分类 10 B.1 介绍性说明 10 B.2 概述 10 B.3 发射等级的定义 10 B.4 结果的表述 11 附录C(资料性) 应用于汽车的参考等级的示例 13 C.1 介绍性说明 13 C.2 概述 13 C.3 参考等级 13 附录D(资料性) EMC要求以及如何使用ICEMC测量技术 15 D.1 介绍性说明 15 D.2 EMC测量程序的使用 15 D.3 IC对模块EMC特性影响的评估 15 附录E(资料性) 由EMC主试验板和ICEME试验板组成的试验装置的示例 17 E.1 介绍性说明 17 E.2 EMC主试验板 17 E.3 ICEME试验板 18 附录F(资料性) 差分数据传输的IC及类似电路的共模发射测量用150Ω直接耦合网络 22 F.1 基本的直接耦合网络 22 F.2 用于高速CAN、LVDS、RS485或类似系统的共模耦合网络替代示例 23 F.3 用于输出到电阻负载的差分IC的共模耦合网络替代方案示例(例如安全气囊触发驱动器) 23 F.4 用于容错CAN系统的共模耦合网络的示例 24 附录G(资料性) 扩展频率范围内的传导发射测量 25 G.1 概述 25 G.2 导则 25 G.3 应用领域 30 参考文献 32 前言本文件按照GB/T 1.1-2020《标准化工作导则第1部分:标准化文件的结构和起草规则》的规定起草。本文件是GB/T 44937《集成电路电磁发射测量》的第4部分。GB/T 44937已经发布了以下部分: ---第4部分:传导发射测量 1Ω/150Ω直接耦合法。本文件等同采用IEC 61967-4:2021《集成电路电磁发射测量第4部分:传导发射测量 1Ω/150Ω 直接耦合法》。请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别专利的责任。本文件由中华人民共和国工业和信息化部提出。本文件由全国集成电路标准化技术委员会(SAC/TC599)归口。本文件起草单位:中国电子技术标准化研究院、深圳市北测标准技术服务有限公司、南京容测检测技术有限公司、北京智芯微电子科技有限公司、工业和信息化部电子第五研究所、天津先进技术研究院、北京无线电计量测试研究所、河南凯瑞车辆检测认证中心有限公司、中国科学院微电子研究所、安徽省计量科学研究院、苏州泰思特电子科技有限公司、中国汽车工程研究院股份有限公司、广州市诚臻电子科技有限公司、江苏省计量科学研究院、扬芯科技(深圳)有限公司、南京师范大学、东南大学、重庆仕益产品质量检测有限责任公司、广州致远电子有限公司。本文件主要起草人:崔强、付君、乔彦彬、方文啸、吴建飞、邢立文、朱赛、刘星汛、李腾飞、李彬鸿、王少启、谢玉章、胡小军、黄雪梅、邵鄂、李楠、周雷、杨红波、颜伟、周香、刘洋、陈勇志、张红丽。引言为规范集成电路电磁发射测量,以及为集成电路制造商和检测机构提供不同的电磁发射测量方法,GB/T 44937《集成电路电磁发射测量》规定了集成电路电磁发射测量的通用条件、定义和不同测量方法的试验程序以及试验要求,拟由9个部分构成。 ---第1部分:通用条件和定义。目的在于规定集成电路电磁发射测量的通用条件和定义。 ---第1-1部分:通用条件和定义近场扫描数据交换格式。目的在于规定近场扫描数据交换格式。 ---第2部分:辐射发射测量 TEM小室和宽带TEM小室法。目的在于规定TEM 小室和宽带 TEM小室法的试验程序和试验要求。 ---第3部分:辐射发射测量表面扫描法。目的在于规定表面扫描法的试验程序和试验要求。 ---第4部分:传导发射测量 1Ω/150Ω直接耦合法。目的在于规定1Ω/150Ω直接耦合法的试验程序和试验要求。 ---第4-1部分:传导发射测量 1Ω/150Ω直接耦合法应用指南。目的在于给出1Ω/150Ω直接耦合法应用指导。 ---第5部分:传导发射测量工作台法拉第笼法。目的在于规定工作台法拉第笼法的试验程序和试验要求。 ---第6部分:传导发射测量磁场探头法。目的在于规定磁场探头法的试验程序和试验要求。 ---第8部分:辐射发射测量 IC带状线法。目的在于规定IC带状线法的试验程序和试验要求。集成电路电磁发射测量第4部分:传导发射测量 1Ω/150Ω直接耦合法 1 范围本文件规定了直接用1Ω阻性探头测量射频(RF)电流和150Ω耦合网络测量RF电压以测量集成电路(IC)传导电磁发射(EME)的方法。这些方法可确保EME测量具有高度的可重复性和相关性。 2 规范性引用文件下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本文件必不可少的条款。其中,注日期的引用文件,仅该日期对应的版本适用于本文件;不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。 IEC 61000-4-6 电磁兼容(EMC) 第4-6部分:试验和测量技术射频场感应的传导骚扰抗扰度注:GB/T 17626.6-2017 电磁兼容试验和测量技术射频场感应的传导骚扰抗扰度(IEC 61000-4-6:2013, IDT) IEC 61967-1 集成电路电磁发射测量第1部分:通用条件和定义(Integratedcircuits-Meas- 3 术语和定义 IEC 61967-1界定的术语和定义适用于本文件。 4 概述 4.1 测量基本原理 IC产生的可接受的最大发射电平取决于包含该IC的电子系统所允许的最大发射电平,以及该电子系统内其他部分的抗扰度电平[即所谓的内部电磁兼容性(EMC)]。该发射电平值由系统和特定应用(环境)的参数决定。为了描述IC的特征,即提供典型的EME数据表,需要一种简单的测量程序和无谐振的试验布置,以保证高度的可重复性。以下描述了试验程序的基本原理。 IC的发射是由IC内部电压和电流的足够快速变化而产生的。这些变化在IC的内部和外部电路激励出RF电流。RF电流产生的传导EME主要通过IC的引脚在印制电路板(PCB)......

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