路径: 主页 > GB/T > 第243页 > GB/T 4589.1-2006 | 标准编号 | GB/T 4589.1-2006 (GB/T4589.1-2006) | | 中文名称 | 半导体器件 第10部分：分立器件和集成电路总规范 | | 英文名称 | Semiconductor devices -- Part 10: Generic specification for discrete devices and integrated circuits | | 行业 | 国家标准 (推荐) | | 中标分类 | L40 | | 国际标准分类 | 31.080.01 | | 字数估计 | 35,359 | | 发布日期 | 2006-10-10 | | 实施日期 | 2007-02-01 | | 旧标准 (被替代) | GB/T 4589.1-1989 | | 采用标准 | IEC 60747-10-1991, IDT | | 标准依据 | 国家标准批准发布公告2006年第10号(总第97号) | | 发布机构 | 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会 | | 范围 | 本规范构成国际电工委员会电子7ri器件质量评定体系（IECQ）的一部分．本规范是半导体器件（分立器件和集成电路, 包括多片集成电路, 但不包括混合电路）的总规范。本规范规定了在IECQ体系内采用的质量评定的总程序, 并给出了下述方面的总原则：电特性侧试方法；气候和机械试验；耐久性试验。 | ......
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