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收录标准: 222397 (2026-05-14)
GB/T 4589.1-2006 相关标准英文版PDF
搜索结果: GB/T 4589.1-2006, GB/T4589.1-2006, GBT 4589.1-2006, GBT4589.1-2006
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状态
GB/T 4589.1-2006
英文版
694
GB/T 4589.1-2006
[PDF]天数 <=4
半导体器件 第10部分:分立器件和集成电路总规范
GB/T 4589.1-2006
有效
GB/T 4589.1-1989
英文版
839
GB/T 4589.1-1989
[PDF]天数 <=4
半导体器件 分立器件和集成电路总规范(可供认证用)
GB/T 4589.1-1989
作废
基本信息
标准编号
GB/T 4589.1-2006 (GB/T4589.1-2006)
中文名称
半导体器件 第10部分:分立器件和集成电路总规范
英文名称
Semiconductor devices -- Part 10: Generic specification for discrete devices and integrated circuits
行业
国家标准 (推荐)
中标分类
L40
国际标准分类
31.080.01
字数估计
35,359
发布日期
2006-10-10
实施日期
2007-02-01
旧标准 (被替代)
GB/T 4589.1-1989
采用标准
IEC 60747-10-1991, IDT
标准依据
国家标准批准发布公告2006年第10号(总第97号)
发布机构
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
范围
本规范构成国际电工委员会电子7ri器件质量评定体系(IECQ)的一部分.本规范是半导体器件(分立器件和集成电路, 包括多片集成电路, 但不包括混合电路)的总规范。本规范规定了在IECQ体系内采用的质量评定的总程序, 并给出了下述方面的总原则:电特性侧试方法;气候和机械试验;耐久性试验。
......
英文网页English:
GB/T 4589.1-2006
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