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GB/T 4589.1-2006 相关标准英文版PDF

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GB/T 4589.1-2006 英文版 694 GB/T 4589.1-2006 [PDF]天数 <=4 半导体器件 第10部分:分立器件和集成电路总规范 GB/T 4589.1-2006 有效
GB/T 4589.1-1989 英文版 839 GB/T 4589.1-1989 [PDF]天数 <=4 半导体器件 分立器件和集成电路总规范(可供认证用) GB/T 4589.1-1989 作废
基本信息
标准编号 GB/T 4589.1-2006 (GB/T4589.1-2006)
中文名称 半导体器件 第10部分:分立器件和集成电路总规范
英文名称 Semiconductor devices -- Part 10: Generic specification for discrete devices and integrated circuits
行业 国家标准 (推荐)
中标分类 L40
国际标准分类 31.080.01
字数估计 35,359
发布日期 2006-10-10
实施日期 2007-02-01
旧标准 (被替代) GB/T 4589.1-1989
采用标准 IEC 60747-10-1991, IDT
标准依据 国家标准批准发布公告2006年第10号(总第97号)
发布机构 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
范围 本规范构成国际电工委员会电子7ri器件质量评定体系(IECQ)的一部分.本规范是半导体器件(分立器件和集成电路, 包括多片集成电路, 但不包括混合电路)的总规范。本规范规定了在IECQ体系内采用的质量评定的总程序, 并给出了下述方面的总原则:电特性侧试方法;气候和机械试验;耐久性试验。

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英文网页English: GB/T 4589.1-2006

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