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[PDF] GB/T 7167-2008 - 英文版

标准号码	内文	价格美元	第2步(购买)	交付天数	标准名称	状态
GB/T 7167-2008	英文版	299	GB/T 7167-2008	[PDF]天数 >=3	锗γ射线探测器测试方法	有效

基本信息
标准编号	GB/T 7167-2008 (GB/T7167-2008)
中文名称	锗γ射线探测器测试方法
英文名称	Test procedures for germanium gamma-ray detectors
行业	国家标准 (推荐)
中标分类	F88
国际标准分类	27.120
字数估计	13,142
发布日期	2008-07-02
实施日期	2009-04-01
旧标准 (被替代)	GB/T 7167-1996
引用标准	JJG 578-1994; JJG 752-1991
采用标准	IEC 60973-1989, NEQ
标准依据	国家标准批准发布公告2008年第11号(总第124号)
发布机构	中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
范围	本标准规定了锗γ射线探测器的性能测试方法。本标准适用于高纯锗γ射线探测器的性能测试, 也适用于高纯锗X射线探测器和锗(锂)探测器的性能测试。

GB/T 7167-2008 Test procedures for germanium gamma-ray detectors ICS ２７．１２０ F８８中华人民共和国国家标准 GB/T ７１６７-２００８代替 GB/T ７１６７-１９９６锗γ射线探测器测试方法（IEC ６０９７３：１９８９，ＮＥＱ）２００８-０７-０２发布２００９-０４-０１实施中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局中国国家标准化管理委员会发布前言本标准对应于IEC ６０９７３：１９８９《锗γ射线探测器测试方法》，与IEC ６０９７３：１９８９一致性程度为非等效。本标准代替GB/T ７１６７-１９９６《锗γ射线探测器测试方法》。本标准与GB/T ７１６７-１９９６相比主要变化如下： ---修改了术语和定义中能量分辨力和探测器窗厚度等部分（见本标准３．１６、３．１７、３．２５）； ---删除了锗探测器分类部分（见原标准第３章）； ---修改了探测效率部分（见本标准第６章）。本标准由中国核工业集团公司提出。本标准由全国核仪器仪表标准化技术委员会归口。本标准起草单位：中国原子能科学研究院。本标准主要起草人：袁大庆，魏可新。本标准所代替标准的历次版本发布情况为：GB/T ７１６７-１９８７、GB/T ７１６７-１９９６。 GB/T ７１６７-２００８锗γ射线探测器测试方法１　范围本标准规定了锗γ射线探测器的性能测试方法。本标准适用于高纯锗γ射线探测器的性能测试，也适用于高纯锗Ｘ射线探测器和锗（锂）探测器的性能测试。２　规范性引用文件下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款。凡是注日期的引用文件，其随后所有的修改单（不包括勘误的内容）或修订版均不适用于本标准，然而，鼓励根据本标准达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本适用于本标准。ＪＪＧ５７８-１９９４　锗γ谱仪体源活度测量装置检定规程ＪＪＧ７５２-１９９１　锗γ谱仪活度标准装置检定规程３　术语和定义下列术语和定义适用于本标准。３．１在室温下，电活性杂质净浓度稳定的锗单晶，杂质净浓度典型值小于３×１０１０ｃｍ-３。在适当的偏压下，由常规尺寸高纯锗单晶制成的探测器可达到全耗尽。３．２半导体探测器的两电接触极面是平行的。３．３半导体探测器的两电接触极面是部分或全部同轴的。一般地，某一个电极的一端是闭合的，称为单开端同轴探测器。两个电极端都不是闭合的，称为双开端同轴探测器。３．４外接触层（外电极）是Ｎ＋型的同轴探测器，外电极上加正偏压。因探测器晶体采用Ｐ型高纯锗，又称Ｐ型同轴探测器。３．５外接触层（电极）是Ｐ型的同轴探测器，外电极上加负偏压。......

英文网页English: GB/T 7167-2008

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