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| 标准编号 | GB/T 7167-2008 (GB/T7167-2008) | | 中文名称 | 锗γ射线探测器测试方法 | | 英文名称 | Test procedures for germanium gamma-ray detectors | | 行业 | 国家标准 (推荐) | | 中标分类 | F88 | | 国际标准分类 | 27.120 | | 字数估计 | 13,142 | | 发布日期 | 2008-07-02 | | 实施日期 | 2009-04-01 | | 旧标准 (被替代) | GB/T 7167-1996 | | 引用标准 | JJG 578-1994; JJG 752-1991 | | 采用标准 | IEC 60973-1989, NEQ | | 标准依据 | 国家标准批准发布公告2008年第11号(总第124号) | | 发布机构 | 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会 | | 范围 | 本标准规定了锗γ射线探测器的性能测试方法。本标准适用于高纯锗γ射线探测器的性能测试, 也适用于高纯锗X射线探测器和锗(锂)探测器的性能测试。 | GB/T 7167-2008
Test procedures for germanium gamma-ray detectors
ICS ２７．１２０
F８８
中华人民共和国国家标准
GB/T ７１６７-２００８
代替 GB/T ７１６７-１９９６
锗γ射线探测器测试方法
（IEC ６０９７３：１９８９，ＮＥＱ）
２００８-０７-０２发布
２００９-０４-０１实施
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局
中国国家标准化管理委员会发布
前言
本标准对应于IEC ６０９７３：１９８９《锗γ射线探测器测试方法》，与IEC ６０９７３：１９８９一致性程度为非
等效。
本标准代替GB/T ７１６７-１９９６《锗γ射线探测器测试方法》。
本标准与GB/T ７１６７-１９９６相比主要变化如下：
---修改了术语和定义中能量分辨力和探测器窗厚度等部分（见本标准３．１６、３．１７、３．２５）；
---删除了锗探测器分类部分（见原标准第３章）；
---修改了探测效率部分（见本标准第６章）。
本标准由中国核工业集团公司提出。
本标准由全国核仪器仪表标准化技术委员会归口。
本标准起草单位：中国原子能科学研究院。
本标准主要起草人：袁大庆，魏可新。
本标准所代替标准的历次版本发布情况为：GB/T ７１６７-１９８７、GB/T ７１６７-１９９６。
GB/T ７１６７-２００８
锗γ射线探测器测试方法
１ 范围
本标准规定了锗γ射线探测器的性能测试方法。
本标准适用于高纯锗γ射线探测器的性能测试，也适用于高纯锗Ｘ射线探测器和锗（锂）探测器的
性能测试。
２ 规范性引用文件
下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款。凡是注日期的引用文件，其随后所有
的修改单（不包括勘误的内容）或修订版均不适用于本标准，然而，鼓励根据本标准达成协议的各方研究
是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本适用于本标准。
ＪＪＧ５７８-１９９４ 锗γ谱仪体源活度测量装置检定规程
ＪＪＧ７５２-１９９１ 锗γ谱仪活度标准装置检定规程
３ 术语和定义
下列术语和定义适用于本标准。
３．１
在室温下，电活性杂质净浓度稳定的锗单晶，杂质净浓度典型值小于３×１０１０ｃｍ-３。在适当的偏压
下，由常规尺寸高纯锗单晶制成的探测器可达到全耗尽。
３．２
半导体探测器的两电接触极面是平行的。
３．３
半导体探测器的两电接触极面是部分或全部同轴的。一般地，某一个电极的一端是闭合的，称为单
开端同轴探测器。两个电极端都不是闭合的，称为双开端同轴探测器。
３．４
外接触层（外电极）是Ｎ＋型的同轴探测器，外电极上加正偏压。因探测器晶体采用Ｐ型高纯锗，
又称Ｐ型同轴探测器。
３．５
外接触层（电极）是Ｐ型的同轴探测器，外电极上加负偏压。......
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