路径: 主页 > JJ > 第15页 > JJG 1015-2006 | 标准编号 | JJG 1015-2006 (JJG1015-2006) | | 中文名称 | 通用数字集成电路测试系统检定规程 | | 英文名称 | Verification Regulation of General Digital Integrated Circuit Testing System | | 行业 | 计量行业标准 | | 中标分类 | A56 | | 国际标准分类 | 17.220 | | 字数估计 | 18,139 | | 发布日期 | 2006-12-08 | | 实施日期 | 2007-03-08 | | 引用标准 | JJF 1059-1999 | | 标准依据 | AQSIQ Announcement No. 187 2006 | | 发布机构 | 国家质量监督检验检疫总局 | | 范围 | 本规程适用于数字集成电路测试系统, 包括混合集成电路及存贮器测试系统的数字部分的首次检定、后续检定和使用中检验。 | JJG 1015-2006
Verification Regulation of General Digital Integrated Circuit Testing System
中华人民共和国国家计量检定规程
通用数字集成电路测试系统
2006-12-08发布
2007-03-08实施
国 家 质 量 监 督 检 验 检 疫 总 局 发 布
通用数字集成电路测试系统
检 定 规 程
stem
本规程经国家质量监督检验检疫总局2006年12月8日批准,并自
2007年3月8日起实施。
归 口 单 位:全国无线电计量技术委员会
起 草 单 位:信息产业部电子工业标准化研究所
本规程委托全国无线电计量技术委员会负责解释
本规程主要起草人:
陈大为 (信息产业部电子工业标准化研究所)
吴京燕 (信息产业部电子工业标准化研究所)
参加起草人:
周 旭 (信息产业部电子工业标准化研究所)
王 酣 (信息产业部电子工业标准化研究所)
目 录
1 范围 (1)
2 引用文件 (1)
3 概述 (1)
4 计量性能要求 (1)
4.1 器件电源 (1)
4.2 精密测量单元 (2)
4.3 驱动单元 (2)
4.4 比较单元 (2)
4.5 系统时钟 (2)
5 通用技术要求 (2)
6 计量器具控制 (2)
6.1 检定条件 (2)
6.2 检定项目及检定方法 (3)
6.3 检定结果的处理 (10)
6.4 检定周期 (10)
附录A 数字集成电路测试系统检定证书及检定结果通知书内页格式 (11)
通用数字集成电路测试系统检定规程
1 范围
本规程适用于数字集成电路测试系统,包括混合集成电路及存贮器测试系统的数字
部分的首次检定、后续检定和使用中检验。
2 引用文件
JJF1059-1999 《测量不确定度评定与表示》
注:使用本规程时,应注意使用上述引用文献的现行有效版本。
3 概述
通用数字集成电路测试系统测试对象是数字逻辑集成电路器件。可用于圆晶片的测
试和封装后的器件测试及产品检验、分析、筛选等测试。典型结构由驱动/比较单元、
图形发生器、时钟发生器、精密测量单元、器件电源及控制单元组成。混合电路测试系
统及存贮器测试系统中的数字测试单元与数字集成电路测试系统结构基本一致。对于它
们的数字测试单元的检定等同于通用数字集成电路测试系统。以下为数字信号测试系统
结构示意图。
图1 集成电路测试......
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