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[PDF] SJ 1550-1979 - 英文版

标准号码	内文	价格美元	第2步(购买)	交付天数	标准名称	状态
SJ 1550-1979	英文版	359	SJ 1550-1979	[PDF]天数 >=3	硅外延片检测方法	作废

基本信息
标准编号	SJ 1550-1979 (SJ1550-1979)
中文名称	硅外延片检测方法
英文名称	Method of inspection for silicon epitaxial wafers
行业	电子行业标准
中标分类	H81
字数估计	9,961
实施日期	6/1/1980
标准依据	工科(2010) 第77号

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英文网页English: SJ 1550-1979

相关标准: GB/T 12963 | GB/T 12963 | SJ/T 11488 |