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标准号码 |
标准名称 |
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SJ 21349-2018
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掺铈无机氧化物闪烁晶体规范
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SJ 21351-2018
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掺铈无机氧化物闪烁晶体原料制备工艺技术要求
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SJ 21352-2018
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掺铈无机氧化物闪烁晶体生长工艺技术要求
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SJ 21353-2018
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掺铈无机氧化物闪烁晶体加工工艺技术要求
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SJ 21442-2018
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GaN-SI型半绝缘氮化镓单晶片规范
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SJ 21443-2018
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GaN-N型低阻氮化镓单晶片规范
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SJ 21444-2018
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β-Ga2O3-N型氧化镓单晶片规范
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SJ 21445-2018
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CdS-N型红外/紫外双色探测用硫化镉单晶片规范
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SJ 21446-2018
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CdS-N-T型红外/紫外双色探测用硫化镉单晶片规范
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SJ 21447-2018
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CdSe-N-T01型红外固体激光器用硒化镉单晶材料规范
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SJ/Z 21350-2018
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掺铈硅酸盐闪烁晶体设计指南
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SJ 21475-2018
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磷化铟单晶片几何参数测试方法
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SJ 21476-2018
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磷化铟单晶锭退火工艺技术要求
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SJ 21477-2018
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磷化铟多晶材料合成工艺技术要求
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SJ 21478-2018
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磷化铟单晶生长工艺技术要求
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SJ 21479-2018
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磷化铟晶片研磨工艺技术要求
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SJ 21486-2018
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水气密封电磁防护复合导电橡胶条规范
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SJ 21487-2018
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电磁屏蔽热缩管规范
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SJ 21488-2018
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橡胶基吸波片规范
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SJ 21489-2018
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显示屏用电加热屏蔽玻璃规范
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SJ 21490-2018
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多层共烧陶瓷 制造工艺路线设计要求
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SJ 21491-2018
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多层共烧陶瓷 整平工艺技术要求
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SJ 21492-2018
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多层共烧陶瓷 喷砂工艺技术要求
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SJ 21493-2018
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碳化硅外延片表面缺陷测试方法
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SJ 21534-2018
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微波功率器件用氮化镓外延片规范
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SJ 21535-2018
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电力电子器件用碳化硅外延片规范
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SJ 21536-2018
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微波功率器件及集成电路用砷化镓外延片规范
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SJ 20444A-2018
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铌酸锂单晶规范
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SJ 21120-2016
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高电子迁移率晶体管用半绝缘砷化镓抛光片规范
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SJ 21121-2016
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PVTCdSN1/T-BP01型硫化镉单晶抛光片规范
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SJ/T 11487-2015
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半绝缘半导体晶片电阻率的无接触测量方法
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SJ/T 11488-2015
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半绝缘砷化镓电阻率、霍尔系数和迁移率测试方法
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SJ/T 11489-2015
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低位错密度磷化铟抛光片蚀坑密度的测量方法
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SJ/T 11490-2015
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低位错密度砷化镓抛光片蚀坑密度的测量方法
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SJ/T 11492-2015
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光致发光法测定磷镓砷晶片的组分
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SJ/T 11496-2015
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红外吸收法测量砷化镓中硼含量
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SJ/T 11497-2015
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砷化镓晶片热稳定性的试验方法
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SJ/T 11499-2015
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碳化硅单晶电学性能的测试方法
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SJ/T 11500-2015
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碳化硅单晶晶向的测试方法
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SJ/T 11501-2015
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碳化硅单晶晶型的测试方法
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SJ/T 11502-2015
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碳化硅单晶抛光片规范
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SJ/T 11503-2015
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碳化硅单晶抛光片表面粗糙度的测试方法
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SJ/T 11504-2015
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碳化硅单晶抛光片表面质量的测试方法
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SJ/T 11505-2015
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蓝宝石单晶抛光片规范
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SJ/T 11470-2014
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发光二极管外延片
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SJ/T 11471-2014
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发光二极管外延片测试方法
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SJ/T 11396-2009
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氮化镓基发光二极管用蓝宝石衬底片
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SJ 20866-2003
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交叉辗压钼铼合金片规范
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SJ 20714-1998
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砷化镓抛光片亚损伤层的X射线双晶衍射试验方法
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SJ 20635-1997
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半绝缘砷化镓剩余杂质浓度微区试验方法
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SJ 2593-1985
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高纯四氯化硅
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SJ 3241-1989
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砷化镓单晶棒及片
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SJ/Z 1610-1980
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硅外延片缺陷图集
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SJ 1549-1979
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硅外延片(暂行)
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SJ/T 11994-2025
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便携式光伏组件
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SJ 21441-2018
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SiC-HPSI型高纯半绝缘碳化硅单晶片规范
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SJ 20514A-2018
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微波功率晶体管用硅外延片规范
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SJ 21122-2016
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PVTSiC76SI1-BP01型碳化硅单晶抛光片规范
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SJ/T 11491-2015
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短基线红外吸收光谱法测量硅中间隙氧含量
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SJ/T 11493-2015
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硅衬底中氮浓度的二次离子质谱测量方法
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SJ/T 11494-2015
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硅单晶中III-V族杂质的光致发光测试方法
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SJ/T 11495-2015
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硅中间隙氧的转换因子指南
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SJ/T 11498-2015
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重掺硅衬底中氧浓度的二次离子质谱测量方法
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SJ/T 11552-2015
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以布鲁斯特角入射P偏振辐射红外吸收光谱法测量硅中间隙氧含量
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SJ 20858-2002
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碳化硅单晶材料电学参数测试方法
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SJ 20718-1998
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碲镉汞晶体中痕量元素的测定方法
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SJ 20719-1998
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碲镉汞晶体X值的X-射线荧光法测定方法
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SJ 20514-1995
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微波功率晶体管用硅外延片规范
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SJ/T 10627-1995
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通过测量间隙氧含量的减少表征硅片氧沉淀特性的方法
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SJ 2572-1985
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太阳能电池用硅单晶棒、片
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SJ 20636-1997
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IC用大直径薄硅片的氧、碳含量微区试验方法
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SJ 1550-1979
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硅外延片检测方法
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SJ 1551-1979
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硅外延层电阻率测试方法（电容-电压法）(暂行)
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SJ 20744-1999
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半导体材料杂质含量红外吸收光谱分析通用导则
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SJ 20713-1998
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砷化镓用高纯镓中铜、锰、镁、钒、钛等12种杂质的等离子体光谱分析法
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SJ/T 10379-1993
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钨钍合金中二氧化钍的测定方法
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SJ/T 11364-2024
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电器电子产品有害物质限制使用标识要求
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SJ 20513-1995
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军用电子管用钨带规范
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SJ 20599-1996
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推拉钨丝规范
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SJ/T 10743-1996
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惰性气体保护电弧焊和等离子焊接、切割用钨铈电极
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SJ/T 10744-1996
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钨钼丝生产专用名词术语
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SJ 324-1972
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钼片
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SJ 20715-1998
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电子元器件用铍青铜板带材规范
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SJ 20716-1998
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电子元器件用铍青铜线棒材规范
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SJ 1543-1988
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电真空器件用镍及镍合金光谱分析方法
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SJ 1538-1987
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电真空器件用镍及镍合金化学成分
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SJ 1539-1987
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电真空器件用镍及镍合金薄壁管
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SJ 1540-1987
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电真空器件用镍及镍合金丝
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SJ 1541-1987
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电真空器件用镍及镍合金带
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SJ 1538-1979
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(标准)
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SJ 1539-1979
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(标准)
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SJ 1540-1979
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(标准)
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SJ 1541-1979
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(标准)
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SJ 1543-1979
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(标准)
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SJ/Z 1544-1979
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镍钨镁合金的光谱分析方法
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SJ 20500-1995
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方舱大板通用规范
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SJ/T 11627-2016
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太阳能电池用硅片电阻率在线测试方法
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SJ/T 11628-2016
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太阳能电池用硅片尺寸及电学表征在线测试方法
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SJ/T 11629-2016
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太阳能电池用硅片和电池片的在线光致发光分析方法
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SJ/T 11630-2016
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太阳能电池用硅片几何尺寸测试方法
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