路径: 主页 > SJ > 第81页 > SJ 1551-1979 | 标准编号 | SJ 1551-1979 (SJ1551-1979) | | 中文名称 | 硅外延层电阻率测试方法（电容-电压法）(暂行) | | 英文名称 | Method of measurement for resistivity of silicon epitaxial layer (capacitance-voltage method) (Provisional) | | 行业 | 电子行业标准 | | 中标分类 | H81 | | 字数估计 | 5,520 | | 实施日期 | 6/1/1980 | | 标准依据 | 工科(2010)第77号 | ......
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