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[PDF] SJ 20785-2000 - 英文版

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SJ 20785-2000 英文版 979 SJ 20785-2000 [PDF]天数 >=5 超辐射发光二极管组件测试方法
基本信息
标准编号 SJ 20785-2000 (SJ20785-2000)
中文名称 超辐射发光二极管组件测试方法
英文名称 Measuring methods for super luminescent diode module
行业 电子行业标准
中标分类 L53
字数估计 28,280
发布日期 2000-10-20
实施日期 2000-10-20
引用标准 GB/T 15651-1995
范围 本标准规定了超辐射发光二极管组件光电参数的测试方法。本标准适用于超辐射发光二极管组件(以下简称""组件"")光电参数测试。

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英文网页English: SJ 20785-2000

相关标准: SAMR 75 | SJ/T 11459.2.3.2 | SJ/T 11459.2.3 | SJ/T 11459.2.3.1 |