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标准号码 |
标准名称 |
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SJ/T 2217-2014
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硅光电晶体管技术规范
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SJ 20972-2007
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电荷耦合成像组件通用规范
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SJ/T 11165-1998
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用于光纤系统或子系统带尾纤/或不带尾纤的PIN-FET模块空白详细规范
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SJ 50033/114-1996
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半导体光电子器件.GD3283Y型位敏探测器详细规范
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SJ 50923/2-1995
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G2-01B-M1型和G2-01B-Z1型半导体光敏器件金属外壳详细规范
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SJ 50033.40-1994
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GT11型半导体硅NPN光敏晶体管详细规范
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SJ 2214.10-1982
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半导体光敏二、三极管光电流的测试方法
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SJ 2214.1-1982
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半导体光敏管测试方法总则
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SJ 2214.2-1982
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半导体光敏二极管正向压降的测试方法
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SJ 2214.3-1982
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半导体光敏二极管暗电流的测试方法
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SJ 2214.4-1982
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半导体光敏二极管反向击穿电压的测试方法
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SJ 2214.5-1982
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半导体光敏二极管结电容的测试方法
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SJ 2214.6-1982
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半导体光敏三极管集电极.发射极反向击穿电压的测试方法
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SJ 2214.7-1982
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半导体光敏三极管饱和压降的测试方法
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SJ 2214.8-1982
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半导体光敏三极管暗电流的测试方法
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SJ 2214.9-1982
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半导体光敏二、三极管脉冲上升、下降时间的测试方法
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SJ 2215.10-1982
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半导体光耦合器直流电流传输比的测试方法
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SJ 2215.11-1982
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半导体光耦合器脉冲、上升、下降、延迟、贮存时间的测试方法
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SJ 2215.1-1982
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半导体光耦合器测试方法总则
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SJ 2215.12-1982
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半导体光耦合器入出间隔离电容的测试方法
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SJ 2215.13-1982
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半导体光耦合器入出间绝缘电阻的测试方法
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SJ 2215.14-1982
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半导体光耦合器入出间绝缘耐压的测试方法
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SJ 2215.2-1982
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半导体光耦合器（二极管）正向压降的测试方法
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SJ 2215.3-1982
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半导体光耦合器（二极管）正向电流的测试方法
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SJ 2215.4-1982
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半导体光耦合器（二极管）反向电流的测试方法
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SJ 2215.5-1982
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半导体光耦合器（二极管）反向击穿电压的测试方法
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SJ 2215.6-1982
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半导体光耦合器（二极管）结电容的测试方法
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SJ 2215.7-1982
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半导体光耦合器集电极-发射极反向击穿电压的测试方法
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SJ 2215.8-1982
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半导体光耦合器输出饱和压降的测试方法
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SJ 2215.9-1982
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半导体光耦合器（三极管）反向截止电流的测试方法
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SJ 2216-1982
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硅光敏二极管
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SJ 2218-1982
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半导体光敏二极管型光耦合器
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SJ 2219-1982
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半导体光敏三极管型光耦合器
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SJ 2220-1982
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半导体达林顿型光耦合器
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SJ/T 2217-1982
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硅光敏三极管
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SJ/T 11141-2025
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发光二极管(LED)显示屏通用规范
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SJ/T 11281-2025
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发光二极管(LED)显示屏测试方法
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SJ/T 11590-2025
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LED显示屏图像质量主观评价方法
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SJ/T 11890-2023
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LED显示屏节能设计要求
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SJ/T 11891-2023
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LED显示屏能效测试方法
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SJ/T 11459.2.3.1-2023
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液晶显示器件 第2-3-1部分：电视机用彩色矩阵叠屏液晶显示模块详细规范
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SJ/T 11459.2.3.2-2023
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液晶显示器件 第2-3-2部分：显示器用彩色矩阵叠屏液晶显示模块详细规范
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SJ/T 11459.2.3-2023
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液晶显示器件 第2-3部分：彩色矩阵叠屏液晶显示模块 空白详细规范
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SJ/T 11460.6.4-2023
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显示光源组件 第6-4部分：测试方法 LED发光板光电参数
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SJ/T 11460.6.5-2023
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显示光源组件 第6-5部分：测试方法 LED前光组件光电参数
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SJ/T 11461.5.2-2023
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有机发光二极管显示器件 第5-2部分：机械试验方法
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SJ/T 11461.5.3-2023
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有机发光二极管显示器件 第5-3部分：残像和寿命的测试方法
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SJ/T 11847.3.3-2023
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柔性显示器件 第3-3部分：内侧折叠柔性显示模块详细规范
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SJ/T 11758-2020
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液晶显示背光组件用LED芯片性能规范
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SJ/T 11733-2019
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基板式(COB)LED空白详细规范
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SJ/T 11734-2019
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芯片级封装(CSP)LED空白详细规范
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SJ/T 11460.3.3-2016
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液晶显示用背光组件 第3-3部分:电视接收机用LED背光组件空白详细规范
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SJ/T 11577-2016
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SJ/T 11394-2009《半导体发光二极管测试方法》应用指南
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SJ/T 11579-2016
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LED模块接口规则
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SJ/T 11580-2016
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普通照明用LED模块（LED部件）接口规则
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SJ/T 11581-2016
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LED模块加速寿命试验方法
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SJ/T 2658.14-2016
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半导体红外发射二极管测量方法 第14部分:结温
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SJ/T 2658.15-2016
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半导体红外发射二极管测量方法 第15部分:热阻
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SJ/T 2658.16-2016
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半导体红外发射二极管测量方法 第16部分:光电转换效率
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SJ/T 2749-2016
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半导体激光二极管测试方法
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SJ/T 11485-2015
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LED型号命名规则
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SJ/T 11486-2015
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小功率LED芯片技术规范
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SJ/T 2658.10-2015
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半导体红外发射二极管测量方法 第10部分：调制带宽
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SJ/T 2658.11-2015
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半导体红外发射二极管测量方法 第11部分：响应时间
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SJ/T 2658.1-2015
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半导体红外发射二极管测量方法 第1部分：总则
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SJ/T 2658.12-2015
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半导体红外发射二极管测量方法 第12部分：峰值发射波长和光谱辐射带宽
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SJ/T 2658.13-2015
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半导体红外发射二极管测量方法 第13部分：辐射功率温度系数
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SJ/T 2658.2-2015
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半导体红外发射二极管测量方法 第2部分：正向电压
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SJ/T 2658.3-2015
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半导体红外发射二极管测量方法 第3部分：反向电压和反向电流
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SJ/T 2658.4-2015
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半导体红外发射二极管测量方法 第4部分：总电容
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SJ/T 2658.5-2015
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半导体红外发射二极管测量方法 第5部分：串联电阻
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SJ/T 2658.6-2015
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半导体红外发射二极管测量方法 第6部分：辐射功率
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SJ/T 2658.7-2015
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半导体红外发射二极管测量方法 第7部分：辐射通量
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SJ/T 2658.8-2015
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半导体红外发射二极管测量方法 第8部分：辐射强度
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SJ/T 2658.9-2015
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半导体红外发射二极管测量方法 第9部分：辐射强度空间分布和半强度角
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SJ/T 11458-2013
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液晶显示背光组件用LED性能规范
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SJ 20786.1-2002
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半导体光电组件.CBGS2301微型双向光电定位器.详细规范
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SJ 53930/1-2002
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半导体光电子器件. GR8813型红外发射二极管详细规范
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SJ 20644.1-2001
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半导体光电子器件 GD3550Y型PIN光电二极管详细规范
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SJ 20644.2-2001
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半导体光电子器件 GD101型PIN光电二极管详细规范
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SJ 20785-2000
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超辐射发光二极管组件测试方法
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SJ 50033/142-1999
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半导体光电子器件.GF4112型绿色发光二极管详细规范
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SJ 50033/143-1999
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半导体光电子器件.GF1120型红色发光二极管详细规范
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SJ 50033/138-1998
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半导体光电子器件.GF318型黄色发光二极管详细规范
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SJ 50033/139-1998
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半导体光电子器件.GF4111型绿色发光二极管详细规范
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SJ/T 11152-1998
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交流粉末电致发光显示器件空白详细规范(可供认证用)
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SJ 20642-1997
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半导体光电模块总规范
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SJ 50033/111-1996
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半导体光电子器件GTI6型硅NPN光电晶体管详细规范
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SJ 50033/112-1996
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半导体光电子器件.GD3251Y型光电二极管详细规范
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SJ 50033/113-1996
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半导体光电子器件.GD3252Y型光电二极管详细规范
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SJ 52146/1-1996
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GS1113型LED红色数码管详细规范
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SJ/T 10729-1996
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交流粉末电致发光玻璃显示器件总规范（可供认证用）
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SJ/T 10947-1996
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电子元器件详细规范 FG341052、FG343053型半导体绿色发光二极管
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SJ/T 10948-1996
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电子元器件详细规范 FG313052、FG314053、FG313054、FG314055型半导体红色发光二极管
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SJ 50033/102-1995
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GD218型InGaAs/InP PIN 光电二极管详细规范
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SJ 50033/58-1995
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半导体光电子器件GF413型绿色发光二极管详细规范
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SJ 50033/99-1995
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半导体光电子器件.GF511型橙/绿双色发光二极管详细规范
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SJ/Z 9171-1995
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录像机用φ3mm绿色圆顶发光二极管认定规范
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SJ/Z 9184-1995
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录像机用双极性铝电解电容器认定规范
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SJ/T 10248-1991
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电子元器件详细规范.GD-24型光电管(可以认证用)
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