路径: 主页 > SJ > 第61页 > SJ 21262-2018 | 标准编号 | SJ 21262-2018 (SJ21262-2018) | | 中文名称 | MEMS惯性器件芯片在片测试技术要求 | | 英文名称 | (Technical requirements for on-chip testing of MEMS inertial device chips) | | 行业 | 电子行业标准 | | 中标分类 | L15 | | 国际标准分类 | 31.070 | | 字数估计 | 12,182 | | 发布日期 | 2018 | | 实施日期 | 2018-05-01 | | 发布机构 | 工业和信息化部 | ......
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