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SJH 21262-2018 相关标准英文版PDF

搜索结果: SJH 21262-2018, SJH21262-2018
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SJ 21262-2018 英文版 419 SJ 21262-2018 [PDF]天数 <=3 MEMS惯性器件芯片在片测试技术要求 SJ 21262-2018
基本信息
标准编号 SJ 21262-2018 (SJ21262-2018)
中文名称 MEMS惯性器件芯片在片测试技术要求
英文名称 (Technical requirements for on-chip testing of MEMS inertial device chips)
行业 电子行业标准
中标分类 L15
国际标准分类 31.070
字数估计 12,182
发布日期 2018
实施日期 2018-05-01
发布机构 工业和信息化部

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英文网页English: SJH 21262-2018

相关标准: GB/Z 40842 | SJ 21263 | SJ 21264 | SJ 21261 |