首页
购物车
询价
www.GB-GBT.com
收录标准: 222414 (2026-05-15)
路径:
主页
>
SJ
>
第80页
> SJ 21591-2021
[PDF] SJ 21591-2021 - 英文版
标准号码
内文
价格美元
第2步(购买)
交付天数
标准名称
状态
SJ 21591-2021
英文版
219
SJ 21591-2021
[PDF]天数 >=3
半绝缘磷化铟单晶片电阻率、迁移率及其均匀性测试方法
有效
基本信息
标准编号
SJ 21591-2021 (SJ21591-2021)
中文名称
半绝缘磷化铟单晶片电阻率、迁移率及其均匀性测试方法
英文名称
(Semi-insulating indium phosphide single wafer resistivity, mobility and uniformity test method)
行业
电子行业标准
中标分类
H83
国际标准分类
29.045
字数估计
10,197
发布日期
2021-12-27
实施日期
2022-03-01
发布机构
工业和信息化部
......
英文网页English:
SJ 21591-2021
相关标准:
GB/T 29055
|
SJ 21589
|
SJ 21590
|
SJ 21588
|