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SJH 21591-2021 相关标准英文版PDF

搜索结果: SJH 21591-2021, SJH21591-2021

标准号码	内文	价格美元	第2步(购买)	交付天数	标准名称	详情	状态
SJ 21591-2021	英文版	219	SJ 21591-2021	[PDF]天数 <=3	半绝缘磷化铟单晶片电阻率、迁移率及其均匀性测试方法	SJ 21591-2021	有效

基本信息
标准编号	SJ 21591-2021 (SJ21591-2021)
中文名称	半绝缘磷化铟单晶片电阻率、迁移率及其均匀性测试方法
英文名称	(Semi-insulating indium phosphide single wafer resistivity, mobility and uniformity test method)
行业	电子行业标准
中标分类	H83
国际标准分类	29.045
字数估计	10,197
发布日期	2021-12-27
实施日期	2022-03-01
发布机构	工业和信息化部

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英文网页English: SJH 21591-2021

相关标准: GB/T 29055 | SJ 21589 | SJ 21590 | SJ 21588 |