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[PDF] SJ 21625-2021 - 英文版

标准号码	内文	价格美元	第2步(购买)	交付天数	标准名称	状态
SJ 21625-2021	英文版	199	SJ 21625-2021	[PDF]天数 >=3	Ⅲ-Ⅴ族半导体材料与异质结界面杂质分布的二次离子质谱测试方法	有效

基本信息
标准编号	SJ 21625-2021 (SJ21625-2021)
中文名称	Ⅲ-Ⅴ族半导体材料与异质结界面杂质分布的二次离子质谱测试方法
英文名称	(Secondary ion mass spectrometry test method for impurity distribution between III-V group semiconductor materials and heterojunction interface)
行业	电子行业标准
中标分类	H83
国际标准分类	29.045
字数估计	9,931
发布日期	2021-12-27
实施日期	2022-03-01
发布机构	工业和信息化部

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英文网页English: SJ 21625-2021

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