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收录标准: 222397 (2026-05-14)
SJH 21625-2021 相关标准英文版PDF
搜索结果: SJH 21625-2021, SJH21625-2021
标准号码
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状态
SJ 21625-2021
英文版
199
SJ 21625-2021
[PDF]天数 <=3
Ⅲ-Ⅴ族半导体材料与异质结界面杂质分布的二次离子质谱测试方法
SJ 21625-2021
有效
基本信息
标准编号
SJ 21625-2021 (SJ21625-2021)
中文名称
Ⅲ-Ⅴ族半导体材料与异质结界面杂质分布的二次离子质谱测试方法
英文名称
(Secondary ion mass spectrometry test method for impurity distribution between III-V group semiconductor materials and heterojunction interface)
行业
电子行业标准
中标分类
H83
国际标准分类
29.045
字数估计
9,931
发布日期
2021-12-27
实施日期
2022-03-01
发布机构
工业和信息化部
......
英文网页English:
SJH 21625-2021
相关标准:
GB/T 29055
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SJ 21624
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SJ 21626
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SJ 21620
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