路径: 主页 > SJ > 第35页 > SJ 2214.4-1982 | 标准编号 | SJ 2214.4-1982 (SJ2214.4-1982) | | 中文名称 | 半导体光敏二极管反向击穿电压的测试方法 | | 英文名称 | Method of measurement for reverse break-down voltage of semiconductor photodiodes | | 行业 | 电子行业标准 | | 中标分类 | L54 | | 字数估计 | 1,169 | | 发布日期 | 11/30/1982 | | 实施日期 | 7/1/1983 | | 标准依据 | 工业和信息化部公告(2015年第28号); 工科(2010)第77号 | | 范围 | 本标准适用于光敏二极管反向击穿电压V(BR)的测试。 | ......
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