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www.GB-GBT.com 收录标准: 222431 (2026-05-16)

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[PDF] SJ 2215.11-1982 - 英文版

标准号码	内文	价格美元	第2步(购买)	交付天数	标准名称	状态
SJ 2215.11-1982	英文版	199	SJ 2215.11-1982	[PDF]天数 >=2	半导体光耦合器脉冲、上升、下降、延迟、贮存时间的测试方法	作废

基本信息
标准编号	SJ 2215.11-1982 (SJ2215.11-1982)
中文名称	半导体光耦合器脉冲、上升、下降、延迟、贮存时间的测试方法
英文名称	Method of measurement for pulse rise fall delay and storage time of semiconductor photocouplers
行业	电子行业标准
中标分类	L54
字数估计	2,295
发布日期	11/30/1982
实施日期	7/1/1983
标准依据	工业和信息化部公告(2015年第28号); 工科(2010)第77号
范围	本标准适用于光耦合器脉冲上升、下降、延迟、贮存时间的测量。

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英文网页English: SJ 2215.11-1982

相关标准: SAMR 76 | SJ/T 2214 | SJ/T 2216 | SJ/T 2215 |