路径: 主页 > SJ > 第12页 > SJ 2327-1983 | 标准编号 | SJ 2327-1983 (SJ2327-1983) | | 中文名称 | 低温试验设备通用技术条件 | | 英文名称 | Generic specification for low temperature test chambers | | 行业 | 电子行业标准 | | 中标分类 | L99 | | 字数估计 | 12,176 | | 发布日期 | 4/11/1983 | | 实施日期 | 10/1/1983 | | 范围 | 本标准规定了电工、电子产品进行低温试验所用设备的技术条件, 能满足GB 2423.1-81《电工电子产品基本环境试验规程试验A:低温试验方法》对试验设备(以下简称设备)的要求。 | ......
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