路径: 主页 > SJ > 第23页 > SJ 3234-1989 | 标准编号 | SJ 3234-1989 (SJ3234-1989) | | 中文名称 | 电子材料真空放气性能的动态测试方法 | | 英文名称 | Test method for dynamic relating to vacuum gas emission properties of electronic material | | 行业 | 电子行业标准 | | 中标分类 | L90 | | 字数估计 | 7,792 | | 发布日期 | 2/20/1989 | | 实施日期 | 3/21/1989 | | 标准依据 | 工科(2010) 第77号 | | 范围 | 本标准适用于电子材料在真空环境中热脱附的放气量、放气速率及就气成份的动态分析。 | ......
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