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标准号码 |
标准名称 |
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SJ/T 10587.1-1994
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DM-305型电子玻璃技术数据
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SJ/T 10587.2-1994
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DM-308型电子玻璃技术数据
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SJ/T 10587.3-1994
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DM-320型电子玻璃技术数据
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SJ/T 10587.4-1994
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DM-346型电子玻璃技术数据
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SJ/T 10588.10-1994
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DB-435型电子玻璃技术数据
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SJ/T 10588.11-1994
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DB-436型电子玻璃技术数据
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SJ/T 10588.1-1994
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DB-401型电子玻璃技术数据
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SJ/T 10588.12-1994
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DB-438型电子玻璃技术数据
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SJ/T 10588.13-1994
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DB-441型电子玻璃技术数据
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SJ/T 10588.14-1994
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DB-442型电子玻璃技术数据
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SJ/T 10588.15-1994
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DB-443型电子玻璃技术数据
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SJ/T 10588.16-1994
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DB-444型电子玻璃技术数据
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SJ/T 10588.17-1994
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DB-456型电子玻璃技术数据
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SJ/T 10588.18-1994
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DB-471型电子玻璃技术数据
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SJ/T 10588.19-1994
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DB-472型电子玻璃技术数据
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SJ/T 10588.20-1994
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DB-473型电子玻璃技术数据
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SJ/T 10588.21-1994
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DB-474型电子玻璃技术数据
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SJ/T 10588.2-1994
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DB-403型电子玻璃技术数据
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SJ/T 10588.22-1994
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DB-488型电子玻璃技术数据
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SJ/T 10588.23-1994
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DB-489型电子玻璃技术数据
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SJ/T 10588.24-1994
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DB-495型电子玻璃技术数据
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SJ/T 10588.3-1994
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DB-404型电子玻璃技术数据
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SJ/T 10588.4-1994
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DB-405型电子玻璃技术数据
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SJ/T 10588.5-1994
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DB-413型电子玻璃技术数据
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SJ/T 10588.6-1994
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DB-422型电子玻璃技术数据
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SJ/T 10588.7-1994
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DB-423型电子玻璃技术数据
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SJ/T 10588.8-1994
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DB-427型电子玻璃技术数据
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SJ/T 10588.9-1994
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DB-428型电子玻璃技术数据
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SJ/T 10589-1994
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DG-502型电子玻璃技术数据
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SJ/T 10590-1994
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DZ-601～624型电子玻璃技术数据
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SJ/T 10591.1-1994
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DH-704型电子玻璃技术数据
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SJ/T 10591.2-1994
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DH-705型电子玻璃技术数据
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SJ/T 10591.3-1994
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DH-706型电子玻璃技术数据
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SJ/T 10592.1-1994
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DT-841型电子玻璃技术数据
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SJ/T 10592.2-1994
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DT-842型电子玻璃技术数据
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SJ 20391-1993
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金属封接用玻璃规范
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SJ/T 10424-1993
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半导体器件用钝化封装玻璃粉
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SJ/T 10461-1993
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电子玻璃用碳酸锶
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SJ/T 1145-1993
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电容器用有机薄膜电性能试验方法通则
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SJ/T 1146-1993
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电容器用有机薄膜体积电阻率试验方法
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SJ/T 1147-1993
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电容器用有机薄膜介质损耗角正切值和介电常数试验方法
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SJ/T 1148-1993
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电容器用有机薄膜击穿强度试验方法
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SJ 20143-1992
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电子器件用钨丝规范
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SJ 20144-1992
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电子器件用钼杆、钼丝、钼片规范
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SJ 20149-1992
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电容器用铝金属化聚酯薄膜规范
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SJ 20150-1992
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电容器用铝金属化聚丙烯薄膜规范
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SJ 20151-1992
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电子器件用镍带规范
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SJ 20152-1992
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电子器件用镍棒、镍丝规范试验方法
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SJ 20155-1992
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射频辐射吸收体（微波吸收材料）的通用规范
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SJ/T 10087.1-1991
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石英砂的化学分析方法
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SJ/T 10087.2-1991
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白云石的化学分析方法
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SJ/T 10087.3-1991
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长石的化学分析方法
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SJ/T 10087.4-1991
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石灰石的化学分析方法
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SJ/T 10087.5-1991
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氧化铅的化学分析方法
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SJ/T 10087.6-1991
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氢氧化铈的化学分析方法
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SJ/T 10087.7-1991
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氟硅酸钠的化学分析方法
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SJ/T 10087.8-1991
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锑酸钠的化学分析方法
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SJ/T 10178-1991
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隔振器特性测试方法
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SJ/T 10180-1991
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金属橡胶型隔振器总规范
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SJ/T 10181-1991
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橡胶型隔振器总规范
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SJ 3195-1989
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电子材料功函数的测试方法
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SJ 3196-1989
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电子材料次级电子发射系数的测试方法
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SJ 3197-1989
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铍青铜弹性元件的热处理
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SJ 3198-1989
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真空硅铝合金中硅、铁、镁、铜的发射光谱分析方法
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SJ 3199-1989
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真空硅铝合金中锌、铅的测定方法.原子吸收分光光度法
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SJ 3205-1989
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电子材料蒸发率的测定方法
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SJ 3227-1989
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电子设备用热管热性能参数测试方法
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SJ 3228.10-1989
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高纯石英砂中铅的测定
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SJ 3228.1-1989
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电子工业用高纯石英砂技术条件
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SJ 3228.2-1989
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高纯石英砂分析方法通则
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SJ 3228.3-1989
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高纯石英砂灼烧失量的测定
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SJ 3228.4-1989
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高纯石英砂中二氧化硅的测定
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SJ 3228.5-1989
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高纯石英砂中铁的测定
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SJ 3228.6-1989
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高纯石英砂中铜的测定
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SJ 3228.7-1989
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高纯石英砂中铬的测定
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SJ 3228.8-1989
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高纯石英砂中铝的测定
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SJ 3228.9-1989
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高纯石英砂中氯的测定
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SJ 3231-1989
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低熔焊接玻璃粉
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SJ 3232.1-1989
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低熔焊接玻璃粉软化温度的测试方法
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SJ 3232.2-1989
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低熔焊接玻璃粉粘结残余应力的测试方法
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SJ 3232.3-1989
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低熔焊接玻璃粉流动性的测试方法
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SJ 3232.4-1989
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低熔焊接玻璃粉结晶化时间的测定方法
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SJ 3234-1989
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电子材料真空放气性能的动态测试方法
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SJ 3235-1989
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带状锆铝吸气剂
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SJ 3236-1989
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电子级气体中痕量氧的测定方法.黄磷发光法
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SJ 3237-1989
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电子级氩中痕量氧的测定方法.氩离子化气相色谱法
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SJ 3238-1989
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电子级氩中痕量氮的测定方法.氩离子化气相色谱法
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SJ 3239-1989
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电子级气体气相色谱分析方法的一般规定
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SJ 3240-1989
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电子级氩中痕量氢与甲烷的测定方法.氩离子化气相色谱法
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SJ 3262-1989
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电子元件包封材料通用技术条件
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SJ 3267-1989
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电真空器件用镀镍铁带
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SJ 3268-1989
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双面覆铝铁带和镍—铁—铝复合带
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SJ 3269-1989
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电真空器件用镀铜铁丝和镀镍铜铁丝
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SJ/Z 3206.10-1989
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发射光谱定性分析方法通则
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SJ/Z 3206.11-1989
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发射光谱定量分析方法通则
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SJ/Z 3206.1-1989
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发射光谱分析实验室的一般要求
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SJ/Z 3206.12-1989
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电真空材料发射光谱分析方法通则
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SJ/Z 3206.13-1989
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半导体材料发射光谱分析方法通则
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SJ/Z 3206.14-1989
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光谱化学分析误差及实验数据处理方法通则
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SJ/Z 3206.2-1989
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发射光谱分析用激发源及其性能要求
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