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| 标准号码 | 内文 | 价格美元 | 第2步(购买) | 交付天数 | 标准名称 | 状态 |
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SJ/T 10735-1996
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英文版
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RFQ
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询价
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[PDF]天数 >=9
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半导体集成电路 TTL电路测试方法的基本原理
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作废
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| 标准编号 | SJ/T 10735-1996 (SJ/T10735-1996) | | 中文名称 | 半导体集成电路 TTL电路测试方法的基本原理 | | 英文名称 | Semiconductor integrated circuits General principles of measuring methods for TTL circuits | | 行业 | 电子行业标准 (推荐) | | 中标分类 | L56 | | 字数估计 | 35,319 | | 实施日期 | 1/1/1997 | | 旧标准 (被替代) | GB 3439-1982 | | 采用标准 | IEC 60147-2, NEQ | | 标准依据 | 工科(2010)第77号 | ......
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