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| 标准号码 | 内文 | 价格美元 | 第2步(购买) | 交付天数 | 标准名称 | 状态 |
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SJ/T 10741-2000
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英文版
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RFQ
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询价
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[PDF]天数 >=9
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半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理
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作废
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| 标准编号 | SJ/T 10741-2000 (SJ/T10741-2000) | | 中文名称 | 半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 | | 英文名称 | Semiconductor integrated circuits General principles of measuring methods for CMOS circuits | | 行业 | 电子行业标准 (推荐) | | 中标分类 | L56 | | 国际标准分类 | 31.2 | | 字数估计 | 37,399 | | 发布日期 | 12/28/2000 | | 实施日期 | 3/1/2001 | | 旧标准 (被替代) | SJ/T 10741-1996(GB 3834-1983) | | 标准依据 | 工业和信息化部公告2011年第25号 | ......
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