路径: 主页 > SJ/T > 第22页 > SJ/T 10901-1996 | 标准编号 | SJ/T 10901-1996 (SJ/T10901-1996) | | 中文名称 | 电子玻璃中二氧化锰的分析 高碘酸钾氧化法 | | 英文名称 | Determination of manganese dioxide in electronic glass by the potassium periodate oxidation method | | 行业 | 电子行业标准 (推荐) | | 中标分类 | L90 | | 字数估计 | 2,244 | | 发布日期 | 11/20/1996 | | 实施日期 | 1/1/1997 | | 旧标准 (被替代) | GB 9000.17-1988 | | 范围 | 电子玻璃中二氧化锰的含量通常在0.001%～0.1%之间, 也有少数玻璃中二氧化锰的含量超过0.1%。铬和铁干扰锰的测定。为了消除铬的干扰, 当铬含量低于0.01%时, 在525nm波长处测定吸收度, 铬含量高于0.01%时, 则在545nm处测定, 铁含量不高时其干扰可以忽略, 如果氧化铁含量超过0.5%, 可以在试剂空白液中加入相同量的铁以抵消试样中铁的干扰。 | ......
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