路径: 主页 > SJ/T > 第31页 > SJ/T 11702-2018 | 标准编号 | SJ/T 11702-2018 (SJ/T11702-2018) | | 中文名称 | 半导体集成电路 串行外设接口测试方法 | | 英文名称 | Semiconductor integrated circuits Measuring methods for serial peripheral interface | | 行业 | 电子行业标准 (推荐) | | 中标分类 | L56 | | 字数估计 | 11,146 | | 发布日期 | 2018-02-09 | | 实施日期 | 2018-04-01 | | 标准依据 | 工业和信息化部公告2018年第10号 | | 发布机构 | 工业和信息化部 | | 范围 | 本标准规定了半导体集成电路串行外设接口测试方法。 | ......
|