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SJ/T 11702-2018 相关标准英文版PDF

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SJ/T 11702-2018 英文版 259 SJ/T 11702-2018 [PDF]天数 <=3 半导体集成电路 串行外设接口测试方法 SJ/T 11702-2018 有效
基本信息
标准编号 SJ/T 11702-2018 (SJ/T11702-2018)
中文名称 半导体集成电路 串行外设接口测试方法
英文名称 Semiconductor integrated circuits Measuring methods for serial peripheral interface
行业 电子行业标准 (推荐)
中标分类 L56
字数估计 11,146
发布日期 2018-02-09
实施日期 2018-04-01
标准依据 工业和信息化部公告2018年第10号
发布机构 工业和信息化部
范围 本标准规定了半导体集成电路串行外设接口测试方法。

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英文网页English: SJ/T 11702-2018

相关标准: GB/T 43770 | SJ 21634 | SJ 21619 | SJ/T 11701 |