路径: 主页 > SJ/T > 第34页 > SJ/T 11706-2018 | 标准编号 | SJ/T 11706-2018 (SJ/T11706-2018) | | 中文名称 | 半导体集成电路 现场可编程门阵列测试方法 | | 英文名称 | Semiconductor integrated circuits test methodof field programmable gate array | | 行业 | 电子行业标准 (推荐) | | 中标分类 | L55 | | 字数估计 | 29,231 | | 发布日期 | 2018-02-09 | | 实施日期 | 2018-04-01 | | 标准依据 | 工业和信息化部公告2018年第10号 | | 发布机构 | 工业和信息化部 | | 范围 | 本标准规定了SRAM型现场可编程门阵列（FieldProgrammableGateArray，以下简称FPGA）的电参数测试方法。 | ......
|