| 标准编号 | SJ/T 2658.14-2016 (SJ/T2658.14-2016) |
| 中文名称 | 半导体红外发射二极管测量方法 第14部分:结温 |
| 英文名称 | Measuring method for semiconductor infrared-emitting diode - Part 14: Junction temperature |
| 行业 | 电子行业标准 (推荐) |
| 中标分类 | L53 |
| 字数估计 | 5,594 |
| 发布日期 | 2016-01-15 |
| 实施日期 | 2016-06-01 |
| 标准依据 | Ministry of Industry and Information Technology Bulletin 2016 No.3 |
| 发布机构 | 工业和信息化部 |
| 范围 | 本标准规定了半导体红外发射二极管结温的测量原理图、测量步骤以及规定条件。适用于半导体红外发射二极管。 |