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[PDF] YD/T 6305-2024 - 英文版

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YD/T 6305-2024 英文版 RFQ 询价 [PDF]天数 >=3 安全芯片非入侵式攻击缓解测试方法 有效
基本信息
标准编号 YD/T 6305-2024 (YD/T6305-2024)
中文名称 安全芯片非入侵式攻击缓解测试方法
英文名称 (Non-invasive attack mitigation test method for security chips)
行业 邮电行业标准 (推荐)
中标分类 L80
国际标准分类 35.030
发布日期 2024-12-10
实施日期 2025-04-01
发布机构 工业和信息化部
范围 本文件规定了安全芯片非入侵式攻击缓解测试方法,包括安全芯片非入侵式攻击缓解的测试要求、测试准备、测试方法与量化指标、以及特殊情况说明等。本文件适用于指导安全芯片的非入侵式攻击缓解测试,从攻击与测试两个角度为厂商提供安全芯片的设计参考

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英文网页English: YD/T 6305-2024

相关标准: GM/T 0130 | YD/T 4970 | YD/T 6220 | YD/T 6304 |