搜索结果: YD/T 6305-2024, YD/T6305-2024, YDT 6305-2024, YDT6305-2024
| 标准号码 | 内文 | 价格美元 | 第2步(购买) | 交付天数 | 标准名称 | 详情 | 状态 |
| YD/T 6305-2024 |
英文版
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RFQ
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询价
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安全芯片非入侵式攻击缓解测试方法
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YD/T 6305-2024
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有效
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| 标准编号 | YD/T 6305-2024 (YD/T6305-2024) | | 中文名称 | 安全芯片非入侵式攻击缓解测试方法 | | 英文名称 | (Non-invasive attack mitigation test method for security chips) | | 行业 | 邮电行业标准 (推荐) | | 中标分类 | L80 | | 国际标准分类 | 35.030 | | 发布日期 | 2024-12-10 | | 实施日期 | 2025-04-01 | | 发布机构 | 工业和信息化部 | | 范围 | 本文件规定了安全芯片非入侵式攻击缓解测试方法，包括安全芯片非入侵式攻击缓解的测试要求、测试准备、测试方法与量化指标、以及特殊情况说明等。本文件适用于指导安全芯片的非入侵式攻击缓解测试，从攻击与测试两个角度为厂商提供安全芯片的设计参考 | ......
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